DBT2-150D2
แดนเบิล
| มีจำหน่าย: | |
|---|---|
| จำนวน: | |

นี้ ห้องทดสอบด้านสิ่งแวดล้อมสำหรับการทดสอบชิปหน่วยความจำเซมิคอนดักเตอร์ ได้รับการออกแบบมาเพื่อการทดสอบอุณหภูมิและการประเมินความน่าเชื่อถือของชิปหน่วยความจำเซมิคอนดักเตอร์ภายใต้สภาวะที่เปิดเครื่อง
| คุณสมบัติที่สำคัญ:
โซนทดสอบคู่: โซนทดสอบอิสระสองโซนสำหรับการทดสอบชิปหน่วยความจำ
ช่วงอุณหภูมิกว้าง: รองรับการทดสอบตั้งแต่ -40 ℃~+100 ℃
การโหลดตัวอย่างความหนาแน่นสูง: ชั้นวางตัวอย่าง 60 ชั้นในแต่ละโซนทดสอบ
ความสามารถในการรับน้ำหนักสูง: รองรับน้ำหนักได้ 30 กก. ต่อโซนทดสอบ
การทดสอบการเปิดเครื่อง: รองรับการทำงานของชิประหว่างการทดสอบอุณหภูมิ
โหลดความร้อนสูง: ออกแบบมาสำหรับโหลดความร้อน 1.6kW ต่อโซนทดสอบ
การทดสอบโดยปราศจากการควบแน่น: ออกแบบมาเพื่อป้องกันการควบแน่นของน้ำในระหว่างกระบวนการทดสอบ
| สถานการณ์การใช้งาน
เหมาะสำหรับการทดสอบชิปหน่วยความจำเซมิคอนดักเตอร์
การประเมินอุณหภูมิหน่วยความจำ IC
การทดสอบเซมิคอนดักเตอร์แบบขับเคลื่อน
การประเมินความน่าเชื่อถือทางความร้อน
| มาตรฐานการปฏิบัติตาม
IEC 60068-2-1: การทดสอบด้านสิ่งแวดล้อม — การทดสอบความเย็น
IEC 60068-2-2: การทดสอบด้านสิ่งแวดล้อม — การทดสอบความร้อนแห้ง
IEC 60068-2-14: การทดสอบด้านสิ่งแวดล้อม — การทดสอบการเปลี่ยนแปลงของอุณหภูมิ
IEC 61010-1: ข้อกำหนดด้านความปลอดภัยสำหรับอุปกรณ์ไฟฟ้าสำหรับการวัด การควบคุม และการใช้งานในห้องปฏิบัติการ
| ทำไมถึงเลือกพวกเรา?
โซลูชันทางวิศวกรรมที่ปรับแต่งได้: DANBLE พัฒนาระบบการทดสอบด้านสิ่งแวดล้อมที่ปรับแต่งตามความต้องการการทดสอบเฉพาะของลูกค้า ขนาดของผลิตภัณฑ์ และสภาพการทำงาน
ความสามารถในการออกแบบทางเทคนิค: ทีมวิศวกรของเราทำงานเกี่ยวกับการออกแบบระบบระบายความร้อน การควบคุมอุณหภูมิ การเพิ่มประสิทธิภาพการไหลเวียนของอากาศ และการกำหนดค่าอุปกรณ์สำหรับการใช้งานการทดสอบที่มีความต้องการสูง
การผลิตภายในองค์กร: กระบวนการผลิตและการประกอบแบบผสมผสานสนับสนุนการควบคุมคุณภาพตลอดทั้งการผลิตอุปกรณ์
การพัฒนาตามการใช้งาน: การออกแบบอุปกรณ์คำนึงถึงเงื่อนไขการทดสอบจริง รวมถึงการโหลดตัวอย่าง การกระจายความร้อน และข้อกำหนดในการปฏิบัติงาน
การสนับสนุนโครงการระหว่างประเทศ: DANBLE ให้การสนับสนุนด้านเทคนิค การส่งมอบอุปกรณ์ การติดตั้งนอกสถานที่ การทดสอบการใช้งาน และการสนับสนุนหลังการขายสำหรับโครงการระหว่างประเทศ