บ้าน
สินค้า
ห้องทดสอบอุณหภูมิและความชื้น
ห้องทดสอบการคัดกรองความเครียดด้านสิ่งแวดล้อม
ห้องช็อกความร้อน
ห้องทดสอบแบตเตอรี่
ห้องทดสอบระดับความสูง
ห้องวอล์คอิน
ห้องทดสอบมอเตอร์บีช
ห้องทดสอบสเปรย์เกลือ
ห้องทดสอบทรายและฝุ่น
เตาอบอุตสาหกรรม/เตาอบลมร้อน
ปรับแต่งอื่นๆ
แอปพลิเคชัน
ยานยนต์
พลังงานใหม่
เซมิคอนดักเตอร์และอิเล็กทรอนิกส์
การบินและอวกาศและการทหาร
อุตสาหกรรมและวัสดุทั่วไป
ทรัพยากร
ดาวน์โหลด
คำถามที่พบบ่อย
ข่าว
ข่าวล่าสุด
บล็อก
เกี่ยวกับเรา
เราเป็นใคร
สิ่งที่เราสามารถทำได้
OEM/ODM
ติดต่อเรา
ขอใบเสนอราคา
การบริการลูกค้า
Please Choose Your Language
English
العربية
Français
Русский
Español
Português
Deutsch
italiano
日本語
한국어
Nederlands
Tiếng Việt
ไทย
Polski
Türkçe
አማርኛ
ພາສາລາວ
ភាសាខ្មែរ
Bahasa Melayu
ဗမာစာ
தமிழ்
Filipino
Bahasa Indonesia
magyar
Română
Čeština
Монгол
қазақ
Српски
हिन्दी
فارسی
Kiswahili
Slovenčina
Slovenščina
Norsk
Svenska
українська
Ελληνικά
Suomi
Հայերեն
עברית
Latine
Dansk
اردو
Shqip
বাংলা
Hrvatski
Afrikaans
Gaeilge
Eesti keel
Māori
ข่าวล่าสุด
ห้องทดสอบ HTOL และวงจรความร้อนสำหรับการตรวจสอบการวิจัยและพัฒนาเซมิคอนดักเตอร์
รับประกันความน่าเชื่อถือของเซมิคอนดักเตอร์ด้วยการตรวจสอบความถูกต้องแม่นยำของ HTOL และห้องหมุนเวียนความร้อน พบกับ JEDEC/MIL-STD หลีกเลี่ยงความล้มเหลว และลดต้นทุนด้านการวิจัยและพัฒนา
16-10-2569
บล็อก
ห้องทดสอบสภาพแวดล้อมของเซมิคอนดักเตอร์: การปฏิบัติตาม JEDEC สำหรับการทดสอบความน่าเชื่อถือของชิป
เลือกห้องทดสอบสภาพแวดล้อมของเซมิคอนดักเตอร์ตามมาตรฐาน JEDEC เพื่อป้องกันความล้มเหลวในสนามซึ่งมีค่าใช้จ่ายสูงและรับประกันการทดสอบความเครียดของ IC ที่เชื่อถือได้
16-10-2569
บล็อก
การทดสอบความเค้นความร้อนสำหรับบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์ | ห้องทดสอบสภาพภูมิอากาศ Danble
หลีกเลี่ยงความล้มเหลวของบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์: เลือกห้องทดสอบสภาพอากาศโดยใช้การเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิแบบฉับพลัน เทียบกับเกณฑ์การปฏิบัติตามข้อกำหนด ESS และ JEDEC/MIL-STD
16-10-2569
บล็อก
ข้อกำหนดด้านความสม่ำเสมอของอุณหภูมิของห้องทดสอบสำหรับการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ที่มีความแม่นยำสูง
หลีกเลี่ยงการส่งผ่านผิดพลาดในการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ เรียนรู้การประเมินห้องทดสอบที่มีความแม่นยำสูง ถอดรหัสข้อกำหนดด้านความร้อน และรับรองความสม่ำเสมอของพื้นที่
16-10-2569
บล็อก
ห้องทดสอบสภาพแวดล้อมแบบกำหนดเองสำหรับการทดสอบชิปหน่วยความจำเซมิคอนดักเตอร์ในเวียดนาม
อุปกรณ์ทดสอบอุณหภูมิเซมิคอนดักเตอร์แบบกำหนดเองโดย DANBLE นำเสนอโซนการทดสอบคู่ การทำงาน -40°C ถึง +100°C การตรวจสอบต้นแบบ และการส่งมอบ 18 ยูนิตพร้อมการทดสอบการใช้งานถึงสถานที่ในเวียดนาม
21-10-2569
กรณี
โซลูชันห้องทดสอบแบบรวมสามชั้นสำหรับการทดสอบอุณหภูมิ ความชื้น และการสั่นสะเทือน
ห้องสภาพแวดล้อมแบบบูรณาการจะจำลองอุณหภูมิและความชื้นภายใต้สภาพภูมิอากาศที่แตกต่างกันเป็นหลัก รวมกับตารางการสั่นสะเทือนเพื่อทำการทดสอบทั้งสามเงื่อนไข (อุณหภูมิ ความชื้น และการสั่นสะเทือน)
22-08-2024
กรณี
โซลูชันห้องทดสอบแรงดันต่ำแบบกำหนดเอง
ถังแรงดันต่ำอุณหภูมิสูงและต่ำส่วนใหญ่จะใช้สำหรับผลิตภัณฑ์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์ (รวมถึงส่วนประกอบ วัสดุ เครื่องมือและเครื่องมือ) ในการบิน การบินและอวกาศ อิเล็กทรอนิกส์ การป้องกันประเทศ การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และแผนกอุตสาหกรรมอื่น ๆ
22-08-2024
กรณี
ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็วสำหรับโซลูชัน ESS
บริษัทดำเนินธุรกิจหลักในการออกแบบ พัฒนา การผลิต การขาย การวางแผนโดยรวมของห้องปฏิบัติการ และการทดสอบผลิตภัณฑ์ของการทดสอบผลิตภัณฑ์ของอุปกรณ์ทดสอบการจำลองสภาพแวดล้อม หน่วย สถาบันวิจัยวิทยาศาสตร์ อุตสาหกรรมการทหาร มหาวิทยาลัย และอุตสาหกรรมอื่นๆ
2024-08-20
กรณี
ผู้จัดจำหน่ายโซลูชันการทดสอบสิ่งแวดล้อมแบบครบวงจร
หมวดหมู่สินค้า
ห้องทดสอบอุณหภูมิ (ความชื้น)
ห้องทดสอบแบตเตอรี่
ห้องช็อกความร้อน
ห้องทดสอบระดับความสูง
ห้องวอล์กอิน
ห้องทดสอบ ESS
ปรับแต่งอื่นๆ
ลิงค์ด่วน
บ้าน
สินค้า
โครงการ
ข่าว
เราเป็นใคร
คำถามที่พบบ่อย
ดาวน์โหลด
ติดต่อเรา
DANBO INSTRUMENT (คุนชาน) บจก.
โทร: +86-400-900-6797-2
อีเมล:
sales01@danbleclimate.com
ที่อยู่: ห้อง 27 เลขที่ 367 ถนน Youbi คุนซาน มณฑลเจียงซู จีน
+86-4009006797
sales01@danbleclimate.com
ลิขสิทธิ์ © 2025 Danble Instrument (Kunshan) Co., Ltd. สงวนลิขสิทธิ์ |
แผนผังเว็บไซต์
|
นโยบายความเป็นส่วนตัว