Ekologické zkušební komory a zkušební zařízení
Komora pro testování teploty polovodičového paměťového čipu
Komora pro testování teploty polovodičového paměťového čipu Komora pro testování teploty polovodičového paměťového čipu

načítání

Komora pro testování teploty polovodičového paměťového čipu

Sdílet s:
tlačítko sdílení na facebooku
tlačítko sdílení na twitteru
tlačítko sdílení linky
tlačítko sdílení wechat
tlačítko sdílení linkedin
tlačítko sdílení na pinterestu
tlačítko sdílení whatsapp
tlačítko sdílení kakaa
tlačítko sdílení snapchat
tlačítko sdílení telegramu
sdílet toto tlačítko sdílení
Tato komora je určena pro testování spolehlivosti polovodičových paměťových čipů v souladu s průmyslovými standardy JEDEC. Přizpůsobuje se DRAM, NAND Flash, eMMC, UFS a paměťovým čipům automobilové třídy, podporuje THB, teplotní cykly a testy stárnutí při konstantní teplotě.
  • DBT2-150D2

  • Danble

Dostupnost:
Množství:

微信图片_20250924150410_481_14


Tato environmentální testovací komora pro testování polovodičových paměťových čipů  je navržena pro teplotní test a hodnocení spolehlivosti polovodičových paměťových čipů za podmínek zapnutí.



| Klíčové vlastnosti:

半导体存储测试环境舱(内部P)


Dual Test Zones: Dvě nezávislé testovací zóny pro testování paměťových čipů.

Široký teplotní rozsah: Podporuje testování od -40℃~+100℃

Vkládání vzorků s vysokou hustotou: 60 vrstev stojanů na vzorky v každé testovací zóně.

Vysoká nosnost: Podporuje zatížení 30 kg na testovací zónu

Powered-On Testing: Podporuje provoz čipu během dočasného testování.

Vysoké tepelné zatížení: Navrženo pro tepelné zatížení 1,6 kW na testovací zónu.

Testování bez kondenzace: Navrženo tak, aby se zabránilo kondenzaci vody během procesu testování


| Aplikační scénáře

  • Vhodné pro testování polovodičových paměťových čipů

  • Vyhodnocení teploty paměťového IC

  • Testování polovodičů po zapnutí

  • Posouzení tepelné spolehlivosti.


| Normy shody

  • IEC 60068-2-1: Testování vlivů prostředí – Testy na chlad.

  • IEC 60068-2-2: Zkoušky prostředí – Zkoušky na suché teplo.

  • IEC 60068-2-14: Zkoušky prostředí – Zkoušky na změnu teploty.

  • IEC 61010-1: Bezpečnostní požadavky na elektrická zařízení pro měření, řízení a laboratorní použití


| Proč si vybrat nás?


  • Přizpůsobená inženýrská řešení: DANBLE vyvíjí na míru šité systémy testování prostředí založené na testovacích požadavcích specifických pro zákazníka, rozměrech produktu a provozních podmínkách.

  • Schopnost technického návrhu: Náš inženýrský tým pracuje na návrhu tepelného systému, řízení teploty, optimalizaci proudění vzduchu a konfiguraci zařízení pro náročné testovací aplikace.

  • Vlastní výroba: Integrované výrobní a montážní procesy podporují kontrolu kvality během výroby zařízení.

  • Vývoj orientovaný na aplikace: Návrh zařízení bere v úvahu skutečné testovací podmínky, včetně zatížení vzorku, odvodu tepla a provozních požadavků.

  • Mezinárodní podpora projektů: DANBLE poskytuje technickou koordinaci, dodávku zařízení, instalaci na místě, uvedení do provozu a poprodejní podporu pro mezinárodní projekty.


Vnitřní objem
150L*2
Vnitřní rozměr
400×280×140(Š×H×V/mm)
Vnější rozměr
1000×1958×2000(Š×H×V/mm)
Teplotní rozsah
-40 ℃ ~ + 100 ℃ nebo přizpůsobené
Rozsah vytápění
(-20~80℃)3min
Rozsah chlazení
(+20~-20℃) 1min
Rovnoměrnost teploty
≤2,5℃
Teplotní odchylka
≤±2℃
Způsob chlazení
Chlazení vodou
Testovací zóna
Dvě testovací zóny
Vzorové zatížení
30 kg/testovací zóna
Odvod tepla
2 kW
Provozní stav
Testování při zapnutí
Hluk
≤ 68 dB
Moc
≤ 68 dB
Nejčastější dotazy
  • Jaká paměťová zařízení a typy obalů lze v této komoře testovat?
    加 Vytvořeno pomocí Sketch.
    形状 Vytvořeno pomocí Sketch.
    DRAM (DDR4/5, LPDDR4X/5, GDDR6), 3D NAND, NOR Flash, zásobníky SRAM a HBM, plus moduly a spravované úložiště (DIMM, eMMC, UFS, BGA SSD). Balíčky BGA, TSOP, QFN, WLCSP a bare-die se všechny vejdou přes odpovídající patici.
  • Jaký rozsah teplot pokrývá?
    加 Vytvořeno pomocí Sketch.
    形状 Vytvořeno pomocí Sketch.
    -40 °C až +100 °C. Typické testování probíhá v rozmezí -20 °C až +85 °C, což odpovídá běžným specifikacím paměťových zařízení.
  • Které testovací standardy podporuje?
    加 Vytvořeno pomocí Sketch.
    形状 Vytvořeno pomocí Sketch.
    Předem nabité profily pokrývají teplotní cyklování JESD22-A104, vysokoteplotní skladování JESD22-A103 (do +100 °C) a životnost JESD22-A119 při nízké teplotě (do -40 °C). Vlastní receptury ramp-and-dwell se načítají přímo bez přeprogramování.
  • Nabízíte instalaci a školení na místě?
    加 Vytvořeno pomocí Sketch.
    形状 Vytvořeno pomocí Sketch.
    Ano. Naši inženýři poskytují plnou podporu při nasazení, včetně:
    1. Nastavení a kalibrace systému
    2. Školení operátorů (2-3 dny)
    3. Poinstalační ověřovací zprávy
  • Jaké záruční krytí je zahrnuto?
    加 Vytvořeno pomocí Sketch.
    形状 Vytvořeno pomocí Sketch.
    Standardní záruka: 12 měsíců (díly + práce).
    ​Prodloužené možnosti: Až 36 měsíců (příplatek 15 %).
    Kritické komponenty (kompresory, regulátory) mají rozšířené hodnoty MTBF.
     
  • Jak řešíte poruchy zařízení?
    加 Vytvořeno pomocí Sketch.
    形状 Vytvořeno pomocí Sketch.
    24/7 vzdálená podpora: Diagnostický přístup prostřednictvím ovladačů s podporou IoT.
    Oprava na místě: 4hodinová odezva + 24 nebo 48hodinová oprava v okolních městech
  • Jaké platební podmínky přijímáte?
    加 Vytvořeno pomocí Sketch.
    形状 Vytvořeno pomocí Sketch.
    T/T: 50% záloha, 50% před odesláním.
    ​L/C: K dispozici pro objednávky ≥ 30 000 $.
    Flexibilní podmínky pro dlouhodobé partnery.
  • Jaká je vaše dodací lhůta pro standardní vs. zakázkové objednávky?​
    加 Vytvořeno pomocí Sketch.
    形状 Vytvořeno pomocí Sketch.
    Standardní jednotky: 30–45 dní po potvrzení objednávky.
    Vlastní sestavení: 60–90 dní (zahrnuje kontrolu 3D návrhu a prototypování).
O NÁS
Společnost Danble, založená v roce 2012 a sídlící v Suzhou, je profesionálním dodavatelem specializujícím se na výzkum a vývoj, výrobu a prodej zařízení pro testování životního prostředí a laboratorních testovacích řešení. 
 
Danble nabízí celou řadu standardních a na zakázku navržených teplotních testovacích komor, které mohou napomoci testování spolehlivosti vystavením produktů skutečným klimatickým podmínkám a extrémům opotřebení, jako je teplota, vlhkost, nadmořská výška, vibrace a další.
Naše hlavní produkty
ŘEŠENÍ
Předchozí: 
Další: 
Dodavatel řešení pro environmentální testování na jednom místě

KATEGORIE PRODUKTŮ

RYCHLÉ ODKAZY

KONTAKTUJTE NÁS

  DANBO INSTRUMENT (KUNSHAN) CO.,LTD.
  Tel: +86-400-900-6797-2
  E-mail: sales01@danbleclimate.com
  Adresa: Pokoj 27, č. 367 Youbi Rd, Kunshan, Jiangsu, Čína
Copyright © 2025 Danble Instrument (Kunshan) Co., Ltd. Všechna práva vyhrazena. | Sitemap | Zásady ochrany osobních údajů