Cámaras de pruebas ambientales y equipos de prueba
Cámara de prueba de temperatura del chip de memoria semiconductor
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Cámara de prueba de temperatura del chip de memoria semiconductor

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Esta cámara está dedicada a pruebas de confiabilidad de chips de memoria semiconductores, cumpliendo con los estándares industriales JEDEC. Se adapta a DRAM, NAND Flash, eMMC, UFS y chips de memoria de grado automotriz, admitiendo THB, ciclos de temperatura y pruebas de envejecimiento a temperatura constante.
  • DBT2-150D2

  • Danble

Disponibilidad:
Cantidad:

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Esta cámara de pruebas ambientales para pruebas de chips de memoria de semiconductores  está diseñada para pruebas de temperatura y evaluación de confiabilidad de chips de memoria de semiconductores en condiciones de encendido.



|Características clave:

半导体存储测试环境舱(内部P)


Zonas de prueba duales: dos zonas de prueba independientes para pruebas de chips de memoria.

Amplio rango de temperatura: admite pruebas desde -40 ℃ ~ +100 ℃

Carga de muestras de alta densidad: 60 capas de bastidores de muestras en cada zona de prueba.

Alta capacidad de carga: soporta carga de 30 kg por zona de prueba

Prueba de encendido: admite el funcionamiento del chip durante las pruebas de temperatura.

Alta carga térmica: Diseñado para una carga térmica de 1,6 kW por zona de prueba.

Pruebas sin condensación: diseñadas para evitar la condensación de agua durante el proceso de prueba.


| Escenarios de aplicación

  • Adecuado para pruebas de chips de memoria semiconductores

  • Evaluación de temperatura del IC de memoria

  • Pruebas de semiconductores encendidos

  • Evaluación de confiabilidad térmica.


| Estándares de cumplimiento

  • IEC 60068-2-1: Pruebas ambientales. Pruebas de frío.

  • IEC 60068-2-2: Pruebas ambientales. Pruebas de calor seco.

  • IEC 60068-2-14: Pruebas ambientales. Pruebas de cambio de temperatura.

  • IEC 61010-1: Requisitos de seguridad para equipos eléctricos de medición, control y uso en laboratorio.


| ¿Por qué elegirnos?


  • Soluciones de ingeniería personalizadas: DANBLE desarrolla sistemas de pruebas ambientales personalizados basados ​​en los requisitos de prueba, las dimensiones del producto y las condiciones operativas específicas del cliente.

  • Capacidad de diseño técnico: nuestro equipo de ingeniería trabaja en el diseño de sistemas térmicos, control de temperatura, optimización del flujo de aire y configuración de equipos para aplicaciones de prueba exigentes.

  • Fabricación interna: los procesos integrados de fabricación y montaje respaldan el control de calidad en toda la producción de equipos.

  • Desarrollo orientado a aplicaciones: el diseño del equipo considera las condiciones de prueba reales, incluida la carga de muestras, la disipación de calor y los requisitos operativos.

  • Soporte de proyectos internacionales: DANBLE brinda coordinación técnica, entrega de equipos, instalación en sitio, puesta en servicio y soporte posventa para proyectos internacionales.


Volumen interno
150L*2
Dimensión interna
400×280×140(Ancho×Pr×Al/mm)
Dimensión externa
1000×1958×2000(An×Pr×Al/mm)
Rango de temperatura
-40 ℃ ~ +100 ℃ o personalizado
Rango de calefacción
(-20~80℃)3min
Rango de enfriamiento
(+20~-20℃)1min
Uniformidad de temperatura
≤2,5 ℃
Desviación de temperatura
≤±2℃
Modo de enfriamiento
refrigeración por agua
Zona de prueba
Dos zonas de prueba
Carga de muestra
30kg/zona de prueba
Disipación del calor
2kW
Condición de operación
Prueba encendida
Ruido
≤68dB
Fuerza
≤68dB
Preguntas frecuentes
  • ¿Qué dispositivos de memoria y tipos de paquetes se pueden probar en esta cámara?
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    DRAM (DDR4/5, LPDDR4X/5, GDDR6), 3D NAND, NOR Flash, pilas SRAM y HBM, además de módulos y almacenamiento administrado (DIMM, eMMC, UFS, BGA SSD). Los paquetes BGA, TSOP, QFN, WLCSP y de matriz desnuda encajan a través del zócalo correspondiente.
  • ¿Qué rango de temperatura cubre?
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    -40 °C a +100 °C. Las pruebas típicas se ejecutan entre -20 °C y +85 °C, coincidiendo con las especificaciones de dispositivos de memoria comunes.
  • ¿Qué estándares de prueba admite?
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    Los perfiles precargados cubren los ciclos de temperatura JESD22-A104, el almacenamiento a alta temperatura JESD22-A103 (hasta +100 °C) y la vida operativa a baja temperatura JESD22-A119 (hasta -40 °C). Las recetas personalizadas de rampa y permanencia se cargan directamente sin reprogramación.
  • ¿Ofrecen instalación y capacitación en el sitio?
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    Sí. Nuestros ingenieros brindan soporte de implementación completo, que incluye:
    1. Configuración y calibración del sistema
    2. Capacitación del operador (sesiones de 2 a 3 días)
    3. Informes de validación posteriores a la instalación
  • ¿Qué cobertura de garantía está incluida?
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    Garantía estándar: 12 meses (piezas + mano de obra).
    ​Opciones extendidas: Hasta 36 meses (tarifa adicional del 15%).
    Los componentes críticos (compresores, controladores) tienen clasificaciones MTBF extendidas.
     
  • ¿Cómo se manejan las fallas del equipo?
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    Soporte remoto 24 horas al día, 7 días a la semana: acceso a diagnóstico a través de controladores habilitados para IoT.
    ​Reparación in situ: respuesta en 4 horas + compromiso de reparación en 24 o 48 horas en ciudades cercanas
  • ¿Qué condiciones de pago aceptan?
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    T/T: depósito del 50%, 50% antes del envío.
    L/C: Disponible para pedidos ≥$30k.
    Términos flexibles para socios a largo plazo.
  • ¿Cuál es su plazo de entrega para pedidos estándar y personalizados?
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    Unidades estándar: 30–45 días después de la confirmación del pedido.
    Construcciones personalizadas: 60 a 90 días (incluye revisión de diseño 3D y creación de prototipos).
Sobre nosotros
Fundada en 2012 y ubicada en Suzhou, Danble es un proveedor profesional especializado en I+D, fabricación y venta de equipos de pruebas ambientales y soluciones de pruebas de laboratorio. 
 
Danble ofrece una gama completa de cámaras de prueba de temperatura estándar y diseñadas a medida que pueden ayudar en las pruebas de confiabilidad al someter los productos a condiciones climáticas y de desgaste extremas del mundo real, como temperatura, humedad, altitud, vibración y más.
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