Mga Kamara sa Pagsusuri sa Kapaligiran at Kagamitan sa Pagsubok
Semiconductor Memory Chip Temperature Test Chamber
Semiconductor Memory Chip Temperature Test Chamber Semiconductor Memory Chip Temperature Test Chamber

naglo-load

Semiconductor Memory Chip Temperature Test Chamber

Ibahagi sa:
button sa pagbabahagi ng facebook
button sa pagbabahagi ng twitter
pindutan ng pagbabahagi ng linya
buton ng pagbabahagi ng wechat
button sa pagbabahagi ng linkedin
Pindutan ng pagbabahagi ng pinterest
button sa pagbabahagi ng whatsapp
button sa pagbabahagi ng kakao
button sa pagbabahagi ng snapchat
pindutan ng pagbabahagi ng telegrama
ibahagi ang button na ito sa pagbabahagi
Ang silid na ito ay nakatuon sa pagsubok sa pagiging maaasahan ng semiconductor memory chip, na sumusunod sa mga pamantayang pang-industriya ng JEDEC. Ito ay umaangkop sa DRAM, NAND Flash, eMMC, UFS at automotive-grade memory chips, na sumusuporta sa THB, temperature cycling at pare-parehong temperature aging tests.
  • DBT2-150D2

  • Danble

Availability:
Dami:

微信图片_20250924150410_481_14


Itong Environmental Test Chamber para sa Semiconductor Memory Chip Testing  ay idinisenyo para sa temperature test at reliability evaluation ng semiconductor memeory chips sa ilalim ng power-on na mga kondisyon.



|Mga Pangunahing Tampok:

半导体存储测试环境舱(内部P)


Dual Test Zones: Dalawang independiyenteng test zone para sa memory chip testing.

Malawak na Saklaw ng Temp: Sinusuportahan ang pagsubok mula -40 ℃~+100 ℃

High-Density Sample Loading: 60 layer ng sample rack sa bawat test zone.

Mataas na Load Capacity: Sinusuportahan ang load na 30kg bawat test zone

Powered-On Testing: Sinusuportahan ang operasyon ng chip sa panahon ng temp testing.

High Heat Load: Idinisenyo para sa heat load na 1.6kW bawat test zone.

Condensation-Free Testing: Idinisenyo upang maiwasan ang condensation water sa panahon ng proseso ng pagsubok


| Mga Sitwasyon ng Application

  • Angkop para sa pagsubok ng semiconductor memory chip

  • Pagsusuri ng temperatura ng memory IC

  • Naka-on na pagsubok sa semiconductor

  • Pagtatasa ng thermal reliability.


| Mga Pamantayan sa Pagsunod

  • IEC 60068-2-1: Pagsusuri sa kapaligiran — Mga pagsubok para sa sipon.

  • IEC 60068-2-2: Pagsusuri sa kapaligiran — Mga pagsubok para sa tuyong init.

  • IEC 60068-2-14: Pagsusuri sa kapaligiran — Mga pagsubok para sa pagbabago ng temperatura.

  • IEC 61010-1: Mga kinakailangan sa kaligtasan para sa mga de-koryenteng kagamitan para sa pagsukat, kontrol, at paggamit ng laboratoryo


| Bakit Kami Piliin?


  • Mga Customized na Solusyon sa Inhinyero: Bumubuo ang DANBLE ng mga iniangkop na sistema ng pagsubok sa kapaligiran batay sa mga kinakailangan sa pagsubok na partikular sa customer, mga dimensyon ng produkto, at mga kondisyon ng pagpapatakbo.

  • Kakayahang Teknikal na Disenyo: Gumagana ang aming team sa engineering sa disenyo ng thermal system, kontrol sa temperatura, pag-optimize ng airflow, at configuration ng kagamitan para sa mga hinihingi na application sa pagsubok.

  • In-House Manufacturing: Sinusuportahan ng pinagsamang mga proseso ng pagmamanupaktura at pagpupulong ang kontrol sa kalidad sa buong produksyon ng kagamitan.

  • Application-Oriented Development: Isinasaalang-alang ng disenyo ng kagamitan ang aktwal na mga kondisyon ng pagsubok, kabilang ang pag-load ng sample, pagkawala ng init, at mga kinakailangan sa pagpapatakbo.

  • Suporta sa Internasyonal na Proyekto: Nagbibigay ang DANBLE ng teknikal na koordinasyon, paghahatid ng kagamitan, pag-install sa lugar, pagkomisyon, at suporta pagkatapos ng pagbebenta para sa mga internasyonal na proyekto.


Panloob na Dami
150L*2
Panloob na Dimensyon
400×280×140(W×D×H/mm)
Panlabas na Dimensyon
1000×1958×2000(W×D×H/mm)
Saklaw ng Temperatura
-40℃~+100℃ o customized
Saklaw ng Pag-init
(-20~80℃)3min
Saklaw ng Paglamig
(+20~-20℃)1min
Pagkakatulad ng Temperatura
≤2.5 ℃
Paglihis ng Temperatura
≤±2℃
Paraan ng Paglamig
Pagpapalamig ng tubig
Sona ng Pagsubok
Dalawang Test Zone
Sample Load
30kg / zone ng pagsubok
Pag-aalis ng init
2kW
Kundisyon ng Operasyon
Naka-on na pagsubok
ingay
≤68dB
kapangyarihan
≤68dB
Mga FAQ
  • Aling mga memory device at mga uri ng package ang maaaring masuri sa silid na ito?
    加 Nilikha gamit ang Sketch.
    形状 Ginawa gamit ang Sketch.
    DRAM (DDR4/5, LPDDR4X/5, GDDR6), 3D NAND, NOR Flash, SRAM at HBM stack, kasama ang mga module at pinamamahalaang storage (DIMM, eMMC, UFS, BGA SSD). Ang BGA, TSOP, QFN, WLCSP at mga bare-die na pakete ay magkasya sa pamamagitan ng katugmang socket.
  • Anong saklaw ng temperatura ang saklaw nito?
    加 Nilikha gamit ang Sketch.
    形状 Ginawa gamit ang Sketch.
    -40 °C hanggang +100 °C. Ang karaniwang pagsubok ay tumatakbo sa loob ng -20 °C hanggang +85 °C, na tumutugma sa karaniwang mga detalye ng memory device.
  • Aling mga pamantayan sa pagsubok ang sinusuportahan nito?
    加 Nilikha gamit ang Sketch.
    形状 Ginawa gamit ang Sketch.
    Sinasaklaw ng mga pre-loaded na profile ang JESD22-A104 temperature cycling, JESD22-A103 high-temperature storage (hanggang +100 °C) at JESD22-A119 low-temperature operating life (hanggang -40 °C). Direktang naglo-load ang mga custom na recipe ng ramp-and-dwell nang hindi nagre-reprogram.
  • Nag-aalok ka ba ng on-site na pag-install at pagsasanay?​
    加 Nilikha gamit ang Sketch.
    形状 Ginawa gamit ang Sketch.
    Oo. Ang aming mga inhinyero ay nagbibigay ng buong suporta sa pag-deploy, kabilang ang:
    1.System setup at calibration
    2. Operator training (2-3 araw na session)
    3. Post-installation validation reports
  • Anong saklaw ng warranty ang kasama?​
    加 Nilikha gamit ang Sketch.
    形状 Ginawa gamit ang Sketch.
    Karaniwang warranty: 12 buwan (mga bahagi + paggawa).
    Mga pinahabang opsyon: Hanggang 36 na buwan (karagdagang 15% na bayad).
    Ang mga kritikal na bahagi (compressor, controllers) ay nagpalawak ng mga rating ng MTBF.
     
  • Paano mo pinangangasiwaan ang mga malfunction ng kagamitan?​
    加 Nilikha gamit ang Sketch.
    形状 Ginawa gamit ang Sketch.
    24/7 na malayuang suporta: Diagnostic na access sa pamamagitan ng IoT-enabled na mga controller.
    ​On-site repair: 4-hour response + 24 o 48-hour fix commitment sa mga kalapit na lungsod
  • Anong mga tuntunin sa pagbabayad ang tinatanggap mo?​
    加 Nilikha gamit ang Sketch.
    形状 Ginawa gamit ang Sketch.
    T/T: 50% na deposito, 50% bago ipadala.
    L/C: Magagamit para sa mga order na ≥$30k.
    Mga flexible na termino para sa mga pangmatagalang kasosyo.
  • Ano ang iyong lead time para sa karaniwan kumpara sa mga custom na order?​
    加 Nilikha gamit ang Sketch.
    形状 Ginawa gamit ang Sketch.
    Mga karaniwang unit: 30–45 araw pagkatapos makumpirma ang order.
    ​Mga custom na build: 60–90 araw (kasama ang 3D design review at prototyping).
Tungkol sa US
Itinatag noong 2012 at matatagpuan sa Suzhou, ang Danble ay isang propesyonal na supplier na dalubhasa sa R&D, pagmamanupaktura, at pagbebenta ng mga kagamitan sa pagsubok sa kapaligiran at mga solusyon sa pagsubok sa laboratoryo. 
 
Ang Danble ay nag-aalok ng buong hanay ng mga standard at custom-designed na temperature test chamber na maaaring makatulong sa reliability testing sa pamamagitan ng pagpapailalim ng mga produkto sa totoong mundong klima at pagsusuot ng mga sukdulan gaya ng temperatura, halumigmig, altitude, vibration, at higit pa.
Ang Aming Mga Pangunahing Produkto
SOLUSYON
Nakaraan: 
Susunod: 
One-Stop Environmental Testing Solutions Supplier

KATEGORYA NG PRODUKTO

MABILIS NA LINK

CONTACT US

  DANBO INSTRUMENT (KUNSHAN) CO.,LTD.
  Tel: +86-400-900-6797-2
  E-mail: sales01@danbleclimate.com
  Address: Room 27, No. 367 Youbi Rd, Kunshan, Jiangsu, China
Copyright © 2025 Danble Instrument (Kunshan) Co., Ltd. Lahat ng Karapatan ay Nakalaan. | Sitemap | Patakaran sa Privacy