Camere de testare a mediului și echipamente de testare
Camera de testare a temperaturii chipului de memorie semiconductor
Camera de testare a temperaturii chipului de memorie semiconductor Camera de testare a temperaturii chipului de memorie semiconductor

încărcare

Camera de testare a temperaturii chipului de memorie semiconductor

Distribuie la:
butonul de partajare pe facebook
butonul de partajare pe Twitter
butonul de partajare a liniilor
butonul de partajare wechat
butonul de partajare linkedin
butonul de partajare pe pinterest
butonul de partajare whatsapp
butonul de partajare kakao
butonul de partajare prin snapchat
butonul de partajare a telegramelor
partajați acest buton de partajare
Această cameră este dedicată testării de fiabilitate a cipurilor de memorie semiconductoare, conform standardelor industriale JEDEC. Se adaptează la DRAM, NAND Flash, eMMC, UFS și cipuri de memorie de calitate auto, compatibil cu THB, cicluri de temperatură și teste de îmbătrânire constantă a temperaturii.
  • DBT2-150D2

  • Danble

Disponibilitate:
Cantitate:

微信图片_20250924150410_481_14


Această cameră de testare a mediului pentru testarea cipurilor de memorie semiconductoare  este proiectată pentru testarea temperaturii și evaluarea fiabilității cipurilor de memorie semiconductoare în condiții de pornire.



| Caracteristici cheie:

半导体存储测试环境舱(内部P)


Zone de testare duble: Două zone de testare independente pentru testarea cipului de memorie.

Gamă largă de temperatură: acceptă testarea de la -40℃~+100℃

Încărcarea probelor de înaltă densitate: 60 de straturi de suporturi de mostre în fiecare zonă de testare.

Capacitate mare de încărcare: suportă o încărcare de 30 kg per zonă de testare

Testare la pornire: Acceptă funcționarea cipului în timpul testării temperaturii.

Sarcină termică mare: Proiectat pentru o sarcină termică de 1,6 kW per zonă de testare.

Testare fără condens: Conceput pentru a preveni condensul apei în timpul procesului de testare


| Scenarii de aplicare

  • Potrivit pentru testarea chipurilor de memorie semiconductoare

  • Evaluarea temperaturii memoriei IC

  • Testarea semiconductoarelor pornite

  • Evaluarea fiabilității termice.


| Standarde de conformitate

  • IEC 60068-2-1: Testare de mediu — Teste pentru frig.

  • IEC 60068-2-2: Testare de mediu — Teste pentru căldură uscată.

  • IEC 60068-2-14: Testare de mediu — Teste pentru modificarea temperaturii.

  • IEC 61010-1: Cerințe de siguranță pentru echipamentele electrice pentru măsurare, control și utilizare în laborator


| De ce să ne alegeți?


  • Soluții de inginerie personalizate: DANBLE dezvoltă sisteme de testare a mediului personalizate bazate pe cerințele de testare specifice clientului, dimensiunile produsului și condițiile de operare.

  • Capacitate de proiectare tehnică: Echipa noastră de ingineri lucrează la proiectarea sistemului termic, controlul temperaturii, optimizarea fluxului de aer și configurarea echipamentelor pentru aplicații de testare solicitante.

  • Fabricație internă: procesele integrate de producție și asamblare sprijină controlul calității pe parcursul producției de echipamente.

  • Dezvoltare orientată către aplicație: Proiectarea echipamentului ia în considerare condițiile reale de testare, inclusiv încărcarea probei, disiparea căldurii și cerințele de funcționare.

  • Suport pentru proiecte internaționale: DANBLE oferă coordonare tehnică, livrare de echipamente, instalare la fața locului, punere în funcțiune și asistență post-vânzare pentru proiecte internaționale.


Volumul intern
150L*2
Dimensiunea internă
400×280×140(L×A×A/mm)
Dimensiunea exterioară
1000×1958×2000(L×A×A/mm)
Interval de temperatură
-40℃~+100℃ sau personalizat
Interval de încălzire
(-20~80℃)3min
Interval de răcire
(+20~-20℃)1 min
Uniformitatea temperaturii
≤2,5℃
Abaterea temperaturii
≤±2℃
Calea de răcire
Răcire cu apă
Zona de testare
Două zone de testare
Încărcare eșantion
30 kg/zonă de testare
Dissiparea căldurii
2kW
Condiția de funcționare
Testare la pornire
Zgomot
≤68dB
Putere
≤68dB
Întrebări frecvente
  • Ce dispozitive de memorie și tipuri de pachete pot fi testate în această cameră?
    加 Creat cu Sketch.
    形状 Creat cu Sketch.
    DRAM (DDR4/5, LPDDR4X/5, GDDR6), 3D NAND, NOR Flash, SRAM și stive HBM, plus module și stocare gestionată (DIMM, eMMC, UFS, BGA SSD). Pachetele BGA, TSOP, QFN, WLCSP și bare-die se potrivesc toate prin priza potrivită.
  • Ce interval de temperatură acoperă?
    加 Creat cu Sketch.
    形状 Creat cu Sketch.
    -40 °C până la +100 °C. Testarea tipică se desfășoară în intervalul -20 °C până la +85 °C, corespunde specificațiilor comune ale dispozitivului de memorie.
  • Ce standarde de testare acceptă?
    加 Creat cu Sketch.
    形状 Creat cu Sketch.
    Profilele preîncărcate acoperă ciclul de temperatură JESD22-A104, stocarea la temperatură înaltă JESD22-A103 (până la +100 °C) și durata de funcționare la temperatură scăzută JESD22-A119 (până la -40 °C). Rețetele personalizate de rampă și repaus se încarcă direct fără reprogramare.
  • Oferiți instalare și instruire la fața locului?​
    加 Creat cu Sketch.
    形状 Creat cu Sketch.
    Da. Inginerii noștri oferă suport complet pentru implementare, inclusiv:
    1.Configurarea și calibrarea sistemului
    2.Instruirea operatorilor (sesiuni de 2-3 zile)
    3.Rapoarte de validare după instalare
  • Ce acoperire de garanție este inclusă?
    加 Creat cu Sketch.
    形状 Creat cu Sketch.
    Garantie standard: 12 luni (piese + manopera).
    ​Opțiuni extinse: Până la 36 de luni (taxă suplimentară de 15%).
    Componentele critice (compresoare, controlere) au evaluări MTBF extinse.
     
  • Cum gestionați defecțiunile echipamentelor?​
    加 Creat cu Sketch.
    形状 Creat cu Sketch.
    Asistență la distanță 24/7: acces la diagnostic prin controlere compatibile IoT.
    ​Reparații la fața locului: răspuns de 4 ore + angajament de reparații de 24 sau 48 de ore în orașele din apropiere
  • Ce termeni de plată acceptați?
    加 Creat cu Sketch.
    形状 Creat cu Sketch.
    T/T: 50% depozit, 50% înainte de expediere.
    ​L/C: Disponibil pentru comenzi ≥30k USD.
    Termeni flexibili pentru partenerii pe termen lung.
  • Care este timpul dvs. de livrare pentru comenzile standard vs. personalizate?​
    加 Creat cu Sketch.
    形状 Creat cu Sketch.
    Unități standard: 30–45 de zile de la confirmarea comenzii.
    ​Construiri personalizate: 60–90 de zile (include revizuirea designului 3D și prototiparea).
Despre noi
Fondat în 2012 și situat în Suzhou, Danble este un furnizor profesionist specializat în cercetare și dezvoltare, producție și vânzare de echipamente de testare a mediului și soluții de testare de laborator. 
 
Danble oferă o gamă completă de camere de testare a temperaturii standard și proiectate personalizat care poate ajuta la testarea fiabilității prin supunerea produselor la clima reală și uzură extreme precum temperatura, umiditatea, altitudinea, vibrațiile și multe altele.
Produsele noastre principale
SOLUŢIE
Anterior: 
Următorul: 
Furnizor unic de soluții de testare a mediului

CATEGORIA DE PRODUSE

LINK-URI RAPIDE

CONTACTAŢI-NE

  DANBO INSTRUMENT (KUNSHAN) CO.,LTD.
  Tel: +86-400-900-6797-2
  E-mail: sales01@danbleclimate.com
  Adresa: Room 27, No. 367 Youbi Rd, Kunshan, Jiangsu, China
Copyright © 2025 Danble Instrument (Kunshan) Co., Ltd. Toate drepturile rezervate. | Harta site-ului | Politica de confidențialitate