DBT2-150D2
Danble
| Ketersediaan: | |
|---|---|
| Kuantiti: | |

ini Bilik Ujian Alam Sekitar untuk Ujian Cip Memori Semikonduktor direka untuk ujian suhu dan penilaian kebolehpercayaan cip memeory semikonduktor di bawah keadaan dihidupkan.
|Ciri Utama:
Zon Ujian Dwi: Dua zon ujian bebas untuk ujian cip memori.
Julat Suhu Luas: Menyokong ujian dari -40 ℃ ~ + 100 ℃
Pemuatan Sampel Berketumpatan Tinggi: 60 lapisan rak sampel dalam setiap zon ujian.
Kapasiti Beban Tinggi: Menyokong beban 30kg setiap zon ujian
Ujian Dikuasakan: Menyokong operasi cip semasa ujian suhu.
Beban Haba Tinggi: Direka untuk beban haba 1.6kW setiap zon ujian.
Ujian Tanpa Pemeluwapan: Direka untuk mengelakkan air pemeluwapan semasa proses ujian
| Senario Aplikasi
Sesuai untuk ujian cip memori semikonduktor
Penilaian suhu IC memori
Ujian semikonduktor dihidupkan
Penilaian kebolehpercayaan terma.
| Piawaian Pematuhan
IEC 60068-2-1: Ujian alam sekitar — Ujian untuk kesejukan.
IEC 60068-2-2: Ujian alam sekitar — Ujian untuk haba kering.
IEC 60068-2-14: Ujian alam sekitar — Ujian untuk perubahan suhu.
IEC 61010-1: Keperluan keselamatan untuk peralatan elektrik untuk pengukuran, kawalan dan kegunaan makmal
| Mengapa Memilih Kami?
Penyelesaian Kejuruteraan Tersuai: DANBLE membangunkan sistem ujian alam sekitar yang disesuaikan berdasarkan keperluan ujian khusus pelanggan, dimensi produk dan keadaan operasi.
Keupayaan Reka Bentuk Teknikal: Pasukan kejuruteraan kami bekerja pada reka bentuk sistem terma, kawalan suhu, pengoptimuman aliran udara dan konfigurasi peralatan untuk aplikasi ujian yang menuntut.
Pembuatan Dalaman: Proses pembuatan dan pemasangan bersepadu menyokong kawalan kualiti sepanjang pengeluaran peralatan.
Pembangunan Berorientasikan Aplikasi: Reka bentuk peralatan mempertimbangkan keadaan ujian sebenar, termasuk pemuatan sampel, pelesapan haba dan keperluan operasi.
Sokongan Projek Antarabangsa: DANBLE menyediakan penyelarasan teknikal, penghantaran peralatan, pemasangan di tapak, pentauliahan dan sokongan selepas jualan untuk projek antarabangsa.