Câmaras de Teste Ambiental e Equipamentos de Teste
Câmara de teste de temperatura de chip de memória semicondutora
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Câmara de teste de temperatura de chip de memória semicondutora

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Esta câmara é dedicada a testes de confiabilidade de chips de memória semicondutores, em conformidade com os padrões industriais JEDEC. Ele se adapta a chips de memória DRAM, NAND Flash, eMMC, UFS e de nível automotivo, suportando THB, ciclos de temperatura e testes de envelhecimento em temperatura constante.
  • DBT2-150D2

  • Dançar

Disponibilidade:
Quantidade:

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Esta Câmara de Teste Ambiental para Teste de Chip de Memória Semicondutora  foi projetada para teste de temperatura e avaliação de confiabilidade de chips de memória semicondutores sob condições de ligação.



|Principais recursos:

半导体存储测试环境舱(内部P)


Zonas de teste duplas: Duas zonas de teste independentes para testes de chips de memória.

Ampla faixa de temperatura: suporta testes de -40°C~+100°C

Carregamento de amostras de alta densidade: 60 camadas de racks de amostras em cada zona de teste.

Alta capacidade de carga: Suporta carga de 30kg por zona de teste

Teste ligado: Suporta operação do chip durante testes temporários.

Alta carga térmica: Projetado para uma carga térmica de 1,6 kW por zona de teste.

Teste sem condensação: Projetado para evitar condensação de água durante o processo de teste


| Cenários de aplicação

  • Adequado para testes de chips de memória semicondutores

  • Avaliação de temperatura do IC de memória

  • Teste de semicondutores ligados

  • Avaliação da confiabilidade térmica.


| Padrões de Conformidade

  • IEC 60068-2-1: Testes ambientais — Testes de frio.

  • IEC 60068-2-2: Testes ambientais — Testes para calor seco.

  • IEC 60068-2-14: Testes ambientais — Testes para mudança de temperatura.

  • IEC 61010-1: Requisitos de segurança para equipamentos elétricos para medição, controle e uso em laboratório


| Por que nos escolher?


  • Soluções de engenharia personalizadas: A DANBLE desenvolve sistemas de testes ambientais personalizados com base nos requisitos de teste específicos do cliente, nas dimensões do produto e nas condições operacionais.

  • Capacidade de projeto técnico: Nossa equipe de engenharia trabalha no projeto de sistemas térmicos, controle de temperatura, otimização de fluxo de ar e configuração de equipamentos para aplicações de testes exigentes.

  • Fabricação interna: Processos integrados de fabricação e montagem apoiam o controle de qualidade em toda a produção do equipamento.

  • Desenvolvimento Orientado à Aplicação: O projeto do equipamento considera as condições reais de teste, incluindo carregamento de amostras, dissipação de calor e requisitos operacionais.

  • Suporte a projetos internacionais: A DANBLE fornece coordenação técnica, entrega de equipamentos, instalação no local, comissionamento e suporte pós-venda para projetos internacionais.


Volume Interno
150L*2
Dimensão Interna
400×280×140(L×P×A/mm)
Dimensão Externa
1000×1958×2000(L×P×A/mm)
Faixa de temperatura
-40℃~+100℃ ou personalizado
Faixa de aquecimento
(-20~80℃)3min
Faixa de resfriamento
(+20~-20℃)1min
Uniformidade de temperatura
≤2,5℃
Desvio de temperatura
≤±2℃
Maneira de resfriamento
Resfriamento a água
Zona de teste
Duas zonas de teste
Carga de amostra
30kg/zona de teste
Disasipação de Calor
2kW
Condição de Operação
Teste ligado
Barulho
≤68dB
Poder
≤68dB
Perguntas frequentes
  • Quais dispositivos de memória e tipos de pacotes podem ser testados nesta câmara?
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    DRAM (DDR4/5, LPDDR4X/5, GDDR6), 3D NAND, NOR Flash, pilhas SRAM e HBM, além de módulos e armazenamento gerenciado (DIMM, eMMC, UFS, BGA SSD). Pacotes BGA, TSOP, QFN, WLCSP e bare-die cabem no soquete correspondente.
  • Que faixa de temperatura ela cobre?
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    -40 °C a +100 °C.​ Os testes típicos são executados entre -20 °C e +85 °C, correspondendo às especificações comuns dos dispositivos de memória.
  • Quais padrões de teste ele suporta?
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    Os perfis pré-carregados cobrem o ciclo de temperatura JESD22-A104, o armazenamento em alta temperatura JESD22-A103 (até +100 °C) e a vida operacional em baixa temperatura JESD22-A119 (até -40 °C). Receitas personalizadas de rampa e permanência são carregadas diretamente, sem reprogramação.
  • Vocês oferecem instalação e treinamento no local?
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    Sim. Nossos engenheiros fornecem suporte completo à implantação, incluindo:
    1. Configuração e calibração do sistema
    2. Treinamento do operador (sessões de 2 a 3 dias)
    3. Relatórios de validação pós-instalação
  • Qual cobertura de garantia está incluída?​
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    Garantia padrão: 12 meses (peças + mão de obra).
    ​Opções estendidas: Até 36 meses (taxa adicional de 15%).
    Componentes críticos (compressores, controladores) possuem classificações de MTBF estendidas.
     
  • Como você lida com o mau funcionamento do equipamento?
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    Suporte remoto 24 horas por dia, 7 dias por semana: Acesso de diagnóstico por meio de controladores habilitados para IoT.
    ​Reparo no local: resposta em 4 horas + compromisso de reparo em 24 ou 48 horas em cidades próximas
  • Quais condições de pagamento você aceita?
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    T/T: depósito de 50%, 50% antes do envio.
    ​L/C: Disponível para pedidos ≥$30k.
    Termos flexíveis para parceiros de longo prazo.
  • Qual é o seu prazo de entrega para pedidos padrão e personalizados?​
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    Unidades padrão: 30–45 dias após a confirmação do pedido.
    Construções personalizadas: 60 a 90 dias (inclui revisão de projeto 3D e prototipagem).
Sobre nós
Fundada em 2012 e localizada em Suzhou, a Danble é um fornecedor profissional especializado em P&D, fabricação e vendas de equipamentos de testes ambientais e soluções de testes laboratoriais. 
 
A Danble oferece uma linha completa de câmaras de teste de temperatura padrão e personalizadas que podem auxiliar nos testes de confiabilidade, submetendo os produtos ao clima do mundo real e a extremos de desgaste, como temperatura, umidade, altitude, vibração e muito mais.
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