Tiyakin ang pagiging maaasahan ng semiconductor na may tumpak na pagpapatunay ng HTOL at thermal cycling chamber. Kilalanin ang JEDEC/MIL-STD, iwasan ang mga pagkabigo, at bawasan ang mga gastos sa R&D.
Magbasa pa
Pumili ng JEDEC-compliant semiconductor environmental test chambers para maiwasan ang magastos na field failure at matiyak ang maaasahang IC stress testing.
Magbasa pa
Iwasan ang mga pagkabigo sa pag-package ng semiconductor: pumili ng mga silid ng pagsubok sa klima gamit ang thermal shock kumpara sa pamantayan sa pagsunod sa ESS at JEDEC/MIL-STD.
Magbasa pa
Iwasan ang mga maling pass sa pagsusuri ng semiconductor. Alamin na suriin ang mga silid ng pagsubok na may mataas na katumpakan, mag-decode ng mga thermal spec, at tiyakin ang pagkakapareho ng spatial.
Magbasa pa
I-maximize ang lab throughput nang hindi lumalawak ang espasyo sa sahig. Matutunan kung paano suriin ang mga multi-layer temperature humidity chamber para sa totoong parallel na pagsubok.
Magbasa pa