Customized Environmental Testing Chamber para sa Semiconductor Memory Chip Testing sa Vietnam

Pangkalahatang-ideya ng Proyekto

Ang pagbuo ng kagamitan sa pagsubok ng temperatura para sa mga semiconductor memory chip ay nagsasangkot ng higit pa sa pagkamit ng isang tinukoy na hanay ng temperatura. Ang high-density na pag-load ng sample, tuluy-tuloy na pagpapatakbo ng kuryente, pagbuo ng panloob na init, at pagkakapare-pareho ng temperatura ay kailangang isaalang-alang sa disenyo ng kagamitan.

Nakipagtulungan si DANBLE sa isang kumpanya ng teknolohiyang semiconductor upang bumuo ng isang naka-customize na solusyon sa pagsubok ng temperatura para sa pagsubok na pinagagana ng memory chip. Nagtatampok ang kagamitan ng dalawang independiyenteng testing zone , na may hanay ng temperatura na -40°C hanggang +100°C at may load na kinakailangan sa pagkakapareho ng temperatura na ≤± 2.5°C. Ang pag-iwas sa kondensasyon ay isa pang mahalagang pangangailangan.

Sinundan ng proyekto ang isang prototype-first development na proseso. Nagbigay ang DANBLE ng paunang prototype para sa pagsusuri ng customer, nagpatuloy sa mass production na 18 units matapos ang prototype na pumasa sa pagsubok ng customer, at nakumpleto ang paghahatid at on-site commissioning sa Vietnam.

Ang proyektong ito ay nagpapakita ng kumpletong proseso ng customized na semiconductor testing equipment development, mula sa paunang pagpapatunay ng disenyo hanggang sa batch production at on-site na pagpapatupad.

1. Mga Kinakailangan sa Application para sa Semiconductor Memory Chip Testing

Ang customer ay nangangailangan ng espesyal na kagamitan sa pagsubok sa kapaligiran para sa mga memory chip na tumatakbo sa ilalim ng kontroladong mga kondisyon ng temperatura. Dahil ang mga produkto ay nananatiling naka-on sa panahon ng pagsubok, ang kagamitan na kinakailangan upang mapaunlakan ang parehong tinukoy na thermal environment at ang init na nabuo ng mga sample.

Ang compact internal space at multi-layer sample arrangement ay nagdagdag ng karagdagang mga kinakailangan para sa pamamahagi ng temperatura at pamamahala ng airflow.

Ang pangunahing mga pagtutukoy ng proyekto ay:

2. Mga Pagsasaalang-alang sa Engineering para sa Dual-Zone na Pagsusuri sa Temperatura

Dalawang Testing Zone sa Isang Configuration ng Kagamitan

Ang kagamitan ay nagsasama ng dalawang testing zone sa loob ng isang compact na istraktura. Ang bawat zone ay may mga panloob na dimensyon na 400 × 280 × 1,400 mm, na nagpapahintulot sa layout ng kagamitan na iayon sa partikular na sample arrangement at mga kinakailangan sa pagsubok ng customer.

Ang configuration ng dual-zone ay nangangailangan ng maingat na pagsasaalang-alang sa panloob na layout, thermal management, at airflow distribution. Ang mga salik na ito ay partikular na mahalaga kapag sinusubukan ang mga produktong semiconductor na bumubuo ng init sa panahon ng operasyon.

Ang disenyo ng kagamitan ay binuo sa paligid ng kinakailangang hanay ng temperatura ng customer, kapasidad ng sample, at mga kondisyon ng pagsubok na na-load.

Pagkakapareho ng Temperatura Sa ilalim ng Mga Kondisyong Pinapatakbo

Sa panahon ng powered semiconductor testing, ang init na nabuo ng mga produkto ay maaaring makaapekto sa distribusyon ng temperatura sa buong testing space.

Sa isang 60-layer na sample rack at isang tinukoy na heat dissipation load na 1.6 kW, ang pagpapanatili ng pare-parehong temperatura sa kabuuan ng sample arrangement ay isang mahalagang pagsasaalang-alang sa engineering.

Ang target ay isang load temperature uniformity na hindi hihigit sa ± 2.5°C. Ang pagkamit ng kinakailangang ito ay nagsasangkot ng pag-coordinate ng thermal control system na may panloob na daloy ng hangin at paglalagay ng sample, sa halip na suriin ang pagganap ng temperatura sa ilalim lamang ng mga walang laman na kondisyon.

Pag-iwas sa Kondensasyon para sa Mga Produktong Semiconductor

Kinakailangan din ng customer na gumana ang kagamitan nang hindi gumagawa ng condensation water sa panahon ng pagsubok.

Ang pagkontrol sa kahalumigmigan ay isang mahalagang pagsasaalang-alang sa mga aplikasyon ng semiconductor, kung saan ang condensation sa paligid ng mga produkto o mga de-koryenteng koneksyon ay maaaring makagambala sa mga kondisyon ng pagsubok.

Ang ugnayan sa pagitan ng temperatura, ambient humidity, temperatura sa ibabaw, at ang dew point ay dapat na isaalang-alang sa disenyo ng kagamitan at pamamaraan ng pagsubok. Ang kinakailangang condensation ay naging bahagi ng mga teknikal na detalye ng proyekto at mga pagsasaalang-alang sa pagtanggap.

3. Prototype Validation Bago ang Mass Production

Ang isang mahalagang bahagi ng proyektong ito ay ang yugto ng proseso ng pag-unlad.

Sa halip na direktang magpatuloy sa buong dami ng produksyon, nagbigay muna ang DANBLE ng prototype para sa pagsusuri ng customer. Pinahintulutan nito ang customer na masuri ang iminungkahing kagamitan laban sa mga kinakailangan sa aplikasyon nito bago gumawa sa kumpletong batch.

Ang proyekto ay nagpatuloy sa tatlong pangunahing yugto:

Stage 1 - Pagbuo ng Prototype

Binuo ng DANBLE ang customized na kagamitan ayon sa kinakailangang hanay ng temperatura, istraktura ng dual-zone, pagsasaayos ng sample rack, mga kondisyon ng pagsubok na pinapatakbo, target ng pagkakapareho ng temperatura, at kinakailangan sa pag-iwas sa condensation.

Stage 2 — Customer Testing and Validation

Ang prototype ay ibinigay sa customer para sa pagsubok. Kasunod ng matagumpay na pagpapatunay ng customer, ang proyekto ay sumulong sa mass production stage.

Ang hakbang na ito ay nagtatag ng isang batayan para sa pagpapatuloy sa napagkasunduang pagsasaayos ng kagamitan bago ang paggawa ng buong dami.

Stage 3 — Mass Production ng 18 Units

Matapos maipasa ng prototype ang pagsubok ng customer, nagpatuloy ang DANBLE sa mass production ng lahat ng 18 units. Ang nakumpletong kagamitan ay naihatid sa Vietnam, kung saan ang on-site na pag-commissioning ay natapos din.

Ang prototype-first approach na ito ay nagbigay ng praktikal na paraan para mapatunayan ang iminungkahing solusyon bago palakihin ang produksyon para sa isang espesyal na aplikasyon ng semiconductor.

4. Batch Delivery at On-Site Commissioning sa Vietnam

Ang proyekto ay hindi natapos sa paggawa ng kagamitan. Kasunod ng matagumpay na prototype validation at batch production, lahat ng 18 units ay naihatid sa Vietnam, at on-site commissioning ay natapos.

Para sa customized na kagamitan sa pagsubok ng semiconductor, ang pag-install at pag-commissioning ay mahalagang bahagi ng pangkalahatang proseso ng paghahatid. Ang kagamitan ay dapat na maisagawa sa kanyang nilalayon na kapaligiran sa pagtatrabaho, na ang pagsasaayos nito ay nakahanay sa aplikasyon ng customer at mga kinakailangan sa pagpapatakbo.

Ang pagkumpleto ng prototype validation, mass production, delivery, at on-site na mga yugto ng commissioning ay nagdala ng proyekto mula sa isang paunang teknikal na kinakailangan sa isang ipinatupad na solusyon sa pagsubok.

5. Ano ang Ipinakikita ng Proyektong Ito

Itinatampok ng proyektong ito ang ilang praktikal na pagsasaalang-alang para sa customized na kagamitan sa pagsubok ng temperatura ng semiconductor.

• Disenyong tukoy sa application: Ang kagamitan ay binuo sa paligid ng sample na configuration ng customer, hanay ng temperatura, pinapagana na operasyon, at thermal load.

• Dual-zone configuration: Dalawang testing zone ang isinama sa istruktura ng kagamitan upang umangkop sa kinakailangang testing arrangement.

• Na-load na kontrol ng temperatura: Ang mga kinakailangan sa disenyo ay tumugon sa pagkakapareho ng temperatura sa ilalim ng pinapatakbong mga kondisyon ng pagsubok, hindi lamang sa nominal na hanay ng temperatura.

• Pagpapatunay na nakabatay sa prototype: Naganap ang pagsubok ng customer sa prototype bago magpatuloy ang 18-unit production batch.

• Kumpletuhin ang pagpapatupad ng proyekto: Ang trabaho ay lumampas sa pagmamanupaktura hanggang sa paghahatid at on-site commissioning sa Vietnam.

Para sa mga tagagawa ng semiconductor at mga kumpanya ng teknolohiya, ang mga salik na ito ay mahalaga kapag pumipili ng isang supplier para sa dalubhasang kagamitan sa pagsubok sa kapaligiran na nilayon para sa paulit-ulit na proseso ng produksyon o pagiging maaasahan.

Mga Madalas Itanong

Maaari bang ipasadya ang kagamitan sa pagsubok ng temperatura ng semiconductor para sa mga powered memory chips?

Oo. Maaaring bumuo ng customized na kagamitan sa paligid ng mga sukat ng produkto, operating heat load, hanay ng temperatura, kapasidad ng sample, at kinakailangang pagkakapareho ng temperatura. Ang pinapatakbo na pagsubok ay nangangailangan ng partikular na atensyon sa init na nalilikha ng mga sample sa panahon ng operasyon.

Bakit gagamit ng prototype validation bago ang mass production?

Ang pagpapatunay ng prototype ay nagbibigay-daan sa customer na suriin ang iminungkahing pagsasaayos sa ilalim ng nilalayong mga kondisyon ng aplikasyon bago magawa ang buong dami ng produksyon. Nagbibigay ito ng pagkakataong kumpirmahin ang disenyo laban sa mga napagkasunduang teknikal na kinakailangan bago palakihin ang produksyon.

Ano ang mga pangunahing hamon sa dual-zone temperature testing equipment?

Kabilang sa mga pangunahing pagsasaalang-alang ang thermal management, airflow distribution, sample positioning, temperature uniformity, at ang interaksyon sa pagitan ng dalawang testing zone. Ang partikular na disenyo ay nakasalalay sa pagsasaayos ng kagamitan at mga kinakailangan sa pagsubok ng customer.

Nagbibigay ba ang DANBLE ng on-site commissioning para sa customized na kagamitan sa pagsubok?

Maaaring kabilang sa paghahatid ng proyekto ang on-site commissioning ayon sa napagkasunduang saklaw ng proyekto at mga kinakailangan sa pag-install. Sa proyektong semiconductor na ito, lahat ng 18 unit ay naihatid sa Vietnam at nakumpleto ang on-site commissioning.

Konklusyon

Mula sa pag-develop ng prototype at pagpapatunay ng customer hanggang sa mass production at on-site commissioning, ang proyektong semiconductor na ito ay may kasamang kumpletong pagpapatupad ng isang customized na solusyon sa pagsubok sa temperatura.

Ang huling batch ay binubuo ng 18 units, bawat isa ay nagtatampok ng dalawang testing zone na idinisenyo para sa semiconductor memory chip application. Tinukoy ang kagamitan para sa operasyon sa pagitan ng -40°C at +100°C, na may 60-layer na sample rack, powered testing, isang load temperature uniformity requirement na ≤± 2.5°C, at walang condensation water sa panahon ng pagsubok.

Para sa mga application na may partikular na sample arrangement at hinihingi ang thermal requirement, ang isang prototype-based na proseso ng pagbuo ay tumutulong sa pagkonekta ng disenyo ng kagamitan, pagpapatunay ng customer, at batch production.

Bumubuo ang DANBLE ng customized na kagamitan sa pagsubok sa kapaligiran para sa mga semiconductor at electronic na application, na may mga solusyon sa proyekto na iniayon sa mga partikular na kinakailangan sa pagsubok.