စက်မှုလုပ်ငန်း
Home-4.0 / လျှောက်လွှာများ / ဖြစ်ရပ်မှန် / ဗီယက်နမ်တွင် Semiconductor Memory Chip စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် စိတ်ကြိုက်ပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်ခြင်းအခန်း

ဗီယက်နမ်တွင် Semiconductor Memory Chip စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် စိတ်ကြိုက်ပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်ခြင်းအခန်း

ပရောဂျက် ခြုံငုံသုံးသပ်ချက်

ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ မမ်မိုရီချစ်ပ်များအတွက် အပူချိန်စမ်းသပ်ကိရိယာများ တီထွင်ထုတ်လုပ်ရာတွင် သတ်မှတ်ထားသော အပူချိန်အပိုင်းအခြားကို ရရှိခြင်းထက် ပိုမိုပါဝင်ပါသည်။ မြင့်မားသောသိပ်သည်းဆနမူနာတင်ခြင်း၊ စဉ်ဆက်မပြတ်လျှပ်စစ်လည်ပတ်မှု၊ အတွင်းပိုင်းအပူထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် အပူချိန်ကိုက်ညီမှုအားလုံးကို စက်ပစ္စည်းဒီဇိုင်းတွင် ထည့်သွင်းစဉ်းစားရန် လိုအပ်သည်။

DANBLE သည် ပါဝါမမ်မိုရီ ချစ်ပ်စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် စိတ်ကြိုက်အပူချိန်စမ်းသပ်မှုဖြေရှင်းချက်ကို တီထွင်ရန် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးနည်းပညာကုမ္ပဏီတစ်ခုနှင့် လက်တွဲခဲ့သည်။ စက်ပစ္စည်းတွင် သီးခြားစမ်းသပ်ဇုန်နှစ်ခု ပါရှိပါသည်။ အပူချိန်အကွာအဝေး -40°C မှ +100°C နှင့် loaded temperature uniformity လိုအပ်ချက် ≤± 2.5°C တို့ပါရှိသော ငွေ့ရည်ဖွဲ့ခြင်းကို ကာကွယ်ခြင်းသည် မရှိမဖြစ်လိုအပ်သော နောက်ထပ်လိုအပ်ချက်တစ်ခုဖြစ်သည်။

ပရောဂျက်သည် ရှေ့ပြေးပုံစံ-ပထမ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေး လုပ်ငန်းစဉ်ကို လုပ်ဆောင်ခဲ့သည်။ DANBLE သည် ဝယ်ယူသူအကဲဖြတ်ရန်အတွက် ကနဦးနမူနာကို ပံ့ပိုးပေးထားပြီး နမူနာပုံစံသည် ဖောက်သည်၏စမ်းသပ်မှုအောင်မြင်ပြီးနောက် ဗီယက်နမ်တွင် ပေးပို့မှုနှင့် ဆိုက်ရောက်စစ်ဆေးခြင်းတို့ကို အပြီးသတ်ပြီးနောက် ယူနစ် 18 အမြောက်အမြားထုတ်လုပ်ခဲ့သည်။

ဤပရောဂျက်သည် စိတ်ကြိုက်တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း စမ်းသပ်ကိရိယာများ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှု ပြီးပြည့်စုံသော လုပ်ငန်းစဉ်ကို သရုပ်ပြပြီး ကနဦး ဒီဇိုင်းအတည်ပြုခြင်းမှ အသုတ်လိုက်ထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် ဆိုက်အတွင်း အကောင်အထည်ဖော်ခြင်းအထိ ဖြစ်သည်။

微信图片_20261021140102_522_19.jpg

1. Semiconductor Memory Chip စမ်းသပ်ခြင်းအတွက် လျှောက်လွှာလိုအပ်ချက်များ

သုံးစွဲသူသည် ထိန်းချုပ်ထားသော အပူချိန်အခြေအနေများအောက်တွင် လုပ်ဆောင်နေသော မမ်မိုရီချစ်ပ်များအတွက် အထူးပြုပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်ကိရိယာများ လိုအပ်ပါသည်။ စမ်းသပ်နေစဉ်အတွင်း ထုတ်ကုန်များကို ပါဝါဖွင့်ထားသောကြောင့်၊ သတ်မှတ်ထားသော အပူပတ်ဝန်းကျင်နှင့် နမူနာများမှ ထုတ်ပေးသော အပူနှစ်မျိုးလုံးကို လိုက်လျောညီထွေဖြစ်စေရန် လိုအပ်သောကိရိယာများ။

ကျစ်လစ်သိပ်သည်းသော အတွင်းပိုင်းနေရာနှင့် အလွှာပေါင်းများစွာ နမူနာအစီအစဉ်သည် အပူချိန်ဖြန့်ဖြူးမှုနှင့် လေစီးဆင်းမှုစီမံခန့်ခွဲမှုအတွက် နောက်ထပ်လိုအပ်ချက်များကို ထပ်လောင်းထည့်သွင်းထားသည်။

အဓိက ပရောဂျက်သတ်မှတ်ချက်များမှာ-

ကန့်သတ်ချက်

သတ်မှတ်ချက်

လျှောက်လွှာ

Semiconductor Memory Chip စမ်းသပ်ခြင်း။

စက်ပစ္စည်း ပမာဏ

၁၈ ယူနစ်

စမ်းသပ်ဇုန်ဖွဲ့စည်းမှု

တစ်ယူနစ်လျှင် စမ်းသပ်ဇုန်နှစ်ခု

အတွင်းပိုင်းအတိုင်းအတာ (W × D × H)

ဇုန်အလိုက် 400 × 280 × 1,400 မီလီမီတာ

အပူချိန်အတိုင်းအတာ

-40°C မှ +100°C

နမူနာထိန်သိမ်းဖွဲ့စည်းမှု

အလွှာ 60

ထုတ်ကုန်စွမ်းရည်

Memory ချစ်ပ် 60

နမူနာပေးပါသည်။

30 ကီလိုဂရမ်

အပူပျံ့ခြင်း။

1.6 kW

လည်ပတ်မှုအခြေအနေ

Power-on စမ်းသပ်ခြင်း။

တင်ထားသော အပူချိန် တူညီမှု

≤± 2.5°C

ငွေ့ရည်ဖွဲ့မှု လိုအပ်ချက်

စမ်းသပ်နေစဉ်အတွင်း ငွေ့ရည်ဖွဲ့ရေမရှိပါ။

ပို့ဆောင်မည့်နေရာ

ဗီယက်နမ်

ပရောဂျက်အခြေအနေ

နမူနာပုံစံကို အတည်ပြုထားပြီး၊ အလုံးရေ ၁၈ လုံး အမြောက်အမြားထုတ်လုပ်၊ ပေးပို့၊ တာဝန်ပေးအပ်သည်။

2. Dual-Zone Temperature Testing အတွက် အင်ဂျင်နီယာဆိုင်ရာ ထည့်သွင်းစဉ်းစားမှုများ

စက်ကိရိယာဖွဲ့စည်းမှုတစ်ခုတွင် စမ်းသပ်ဇုန်နှစ်ခု

စက်ကိရိယာများသည် ကျစ်လစ်သိပ်သည်းသောဖွဲ့စည်းပုံအတွင်း စမ်းသပ်ဇုန်နှစ်ခုကို ပေါင်းစပ်ထားသည်။ ဇုန်တစ်ခုစီတွင် အတွင်းပိုင်းအတိုင်းအတာမှာ 400 × 280 × 1,400 မီလီမီတာရှိပြီး စက်ပစ္စည်း အဆင်အပြင်ကို ဝယ်ယူသူ၏ သီးခြားနမူနာအစီအစဉ်နှင့် စမ်းသပ်မှုလိုအပ်ချက်များနှင့် အံဝင်ခွင်ကျဖြစ်စေပါသည်။

ဇုန်နှစ်ခုဖွဲ့စည်းပုံသည် အတွင်းပိုင်းအပြင်အဆင်၊ အပူပိုင်းစီမံခန့်ခွဲမှုနှင့် လေစီးဆင်းမှုဖြန့်ဖြူးမှုတို့ကို ဂရုတစိုက်ထည့်သွင်းစဉ်းစားရန် လိုအပ်သည်။ လည်ပတ်နေစဉ်အတွင်း အပူထုတ်ပေးသည့် semiconductor ထုတ်ကုန်များကို စမ်းသပ်သောအခါ ဤအချက်များသည် အထူးအရေးကြီးပါသည်။

စက်ပစ္စည်းဒီဇိုင်းကို ဖောက်သည်၏လိုအပ်သော အပူချိန်အကွာအဝေး၊ နမူနာစွမ်းရည်နှင့် တင်ဆောင်ထားသော စမ်းသပ်မှုအခြေအနေများ ပတ်လည်တွင် တီထွင်ခဲ့သည်။

Powered Conditions အောက်တွင် အပူချိန်တူညီမှု

ပါဝါတစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးတာ စမ်းသပ်စဉ်တွင်၊ ထုတ်ကုန်များမှ ထုတ်ပေးသော အပူသည် စမ်းသပ်နေရာတစ်လျှောက်လုံး အပူချိန်ဖြန့်ဖြူးမှုကို ထိခိုက်စေနိုင်သည်။

60-အလွှာနမူနာထိန်သိမ်းခြင်းနှင့် သတ်မှတ်ထားသော အပူပျံ့စေသောဝန် 1.6 kW ဖြင့်၊ နမူနာပုံစံအစီအစဉ်တစ်လျှောက် တသမတ်တည်းရှိသောအပူချိန်ကို ထိန်းသိမ်းခြင်းသည် အဓိက အင်ဂျင်နီယာဆိုင်ရာ ထည့်သွင်းစဉ်းစားမှုဖြစ်သည်။

ပစ်မှတ်သည် ± 2.5°C ထက်မပိုသော အပူချိန်တူညီမှုဖြစ်သည်။ ဤလိုအပ်ချက်ကိုရရှိရန်မှာ အပူထိန်းစနစ်အား အတွင်းပိုင်းလေ၀င်လေထွက်နှင့် နမူနာနေရာချထားမှုဖြင့် ညှိနှိုင်းဆောင်ရွက်ခြင်း၊ အပူချိန် စွမ်းဆောင်ရည်ကို အချည်းနှီးသက်သက် အကဲဖြတ်ခြင်းထက် အပူချိန်ထိန်းချုပ်မှုစနစ်တွင် ပါဝင်ပါသည်။

半导体设备(1).jpg

Semiconductor ထုတ်ကုန်များအတွက် ငွေ့ရည်ဖွဲ့ခြင်းကို တားဆီးခြင်း။

ဖောက်သည်သည် စမ်းသပ်နေစဉ်အတွင်း ငွေ့ရည်ဖွဲ့ရေကို မထုတ်ပေးဘဲ လည်ပတ်ရန် စက်ကိရိယာကိုလည်း လိုအပ်သည်။

အစိုဓာတ်ထိန်းသည် ထုတ်ကုန်များအနီးရှိ ငွေ့ရည်ဖွဲ့မှု သို့မဟုတ် လျှပ်စစ်ချိတ်ဆက်မှုများသည် စမ်းသပ်မှုအခြေအနေများကို အနှောင့်အယှက်ဖြစ်စေနိုင်သည့် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း အသုံးပြုမှုတွင် အရေးကြီးသော ထည့်သွင်းစဉ်းစားမှုတစ်ခုဖြစ်သည်။

အပူချိန်၊ ပတ်ဝန်းကျင်စိုထိုင်းဆ၊ မျက်နှာပြင်အပူချိန်နှင့် နှင်းရည်အမှတ်တို့ကြား ဆက်စပ်မှုကို စက်ကိရိယာဒီဇိုင်းနှင့် စမ်းသပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်တွင် ထည့်သွင်းစဉ်းစားရပါမည်။ ငွေ့ရည်ဖွဲ့မှု လိုအပ်ချက်သည် ပရောဂျက်၏ နည်းပညာဆိုင်ရာ သတ်မှတ်ချက်များနှင့် လက်ခံမှုဆိုင်ရာ ထည့်သွင်းစဉ်းစားမှုများ၏ တစ်စိတ်တစ်ပိုင်းကို ဖွဲ့စည်းထားသည်။

3. အစုလိုက်အပြုံလိုက်ထုတ်လုပ်ခြင်းမပြုမီ ရှေ့ပြေးပုံစံသက်သေပြခြင်း။

ဤပရောဂျက်၏ အရေးကြီးသော အစိတ်အပိုင်းမှာ အဆင့်လိုက် ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေး လုပ်ငန်းစဉ်ဖြစ်သည်။

ထုတ်လုပ်မှုပမာဏကို တိုက်ရိုက်လုပ်ဆောင်မည့်အစား၊ DANBLE သည် ဖောက်သည်အကဲဖြတ်မှုအတွက် ရှေ့ပြေးပုံစံကို ဦးစွာပံ့ပိုးပေးခဲ့သည်။ ဤအရာက ဝယ်ယူသူအား အဆိုပြုထားသော စက်ကိရိယာများကို အပြီးသတ်အသုတ်သို့ မအပ်နှံမီ ၎င်း၏လျှောက်လွှာလိုအပ်ချက်များနှင့် အကဲဖြတ်ရန် ခွင့်ပြုခဲ့သည်။

ပရောဂျက်သည် အဓိက အဆင့်သုံးဆင့်ဖြင့် ဆောင်ရွက်ခဲ့ပါသည်။

အဆင့် 1 — ရှေ့ပြေးပုံစံ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှု

DANBLE သည် လိုအပ်သော အပူချိန်အကွာအဝေး၊ ဇုန်နှစ်ခုတည်ဆောက်ပုံ၊ နမူနာထိန်သိမ်းဖွဲ့စည်းပုံ၊ ပါဝါစမ်းသပ်မှုအခြေအနေများ၊ အပူချိန်တူညီမှုပစ်မှတ်နှင့် ငွေ့ရည်ဖွဲ့မှုကာကွယ်မှုလိုအပ်ချက်တို့နှင့်အညီ စိတ်ကြိုက်စက်ပစ္စည်းများကို တီထွင်ခဲ့သည်။

အဆင့် 2 - ဖောက်သည်စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် မှန်ကန်ကြောင်း အတည်ပြုခြင်း။

နမူနာပုံစံကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် ဖောက်သည်အား ပေးအပ်ခဲ့သည်။ အောင်မြင်သောဖောက်သည်များ၏အတည်ပြုချက်ပြီးနောက်၊ ပရောဂျက်သည် အစုလိုက်အပြုံလိုက်ထုတ်လုပ်မှုအဆင့်သို့ ရွေ့လျားခဲ့သည်။

ဤအဆင့်သည် ပမာဏအပြည့်မထုတ်လုပ်မီ သဘောတူညီထားသည့် စက်ကိရိယာဖွဲ့စည်းပုံပုံစံကို ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ရန်အတွက် အခြေခံတစ်ခုဖြစ်သည်။

အဆင့် 3 — အလုံးရေ 18 ထုတ်လုပ်မှု

နမူနာပုံစံသည် ဖောက်သည်၏စမ်းသပ်မှုကို အောင်မြင်ပြီးနောက်၊ DANBLE သည် ယူနစ် 18 လုံး၏ အလုံးအရင်းဖြင့် ထုတ်လုပ်မှုကို ဆက်လက်လုပ်ဆောင်ခဲ့သည်။ ပြီးစီးခဲ့သော စက်ပစ္စည်းများကို ဗီယက်နမ်နိုင်ငံသို့ ပို့ဆောင်ခဲ့ပြီး ဆိုက်ရောက်စစ်ဆေးခြင်းကိုလည်း ပြီးစီးခဲ့သည်။

ဤရှေ့ပြေးပုံစံ-ပထမချဉ်းကပ်နည်းသည် အထူးပြုတစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးတာအက်ပလီကေးရှင်းအတွက် ထုတ်လုပ်မှုကို ချဲ့ထွင်ခြင်းမပြုမီ အဆိုပြုထားသောအဖြေကို အတည်ပြုရန် လက်တွေ့ကျသောနည်းလမ်းကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။

4. ဗီယက်နမ်တွင် အစုလိုက် ပို့ဆောင်ခြင်းနှင့် ဆိုက်ရောက် ကော်မရှင်ပေးခြင်း

ပရောဂျက်သည် စက်ကိရိယာများ ထုတ်လုပ်မှုဖြင့် မပြီးဆုံးခဲ့ပေ။ ရှေ့ပြေးပုံစံ အတည်ပြုခြင်းနှင့် အသုတ်ထုတ်လုပ်ခြင်း အောင်မြင်ပြီးနောက် ယူနစ် ၁၈ လုံးအား ဗီယက်နမ်နိုင်ငံသို့ ပို့ဆောင်ခဲ့ပြီး ဆိုက်ရောက်စစ်ဆေးခြင်း ပြီးစီးခဲ့သည်။

စိတ်ကြိုက်တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းစမ်းသပ်ကိရိယာများအတွက်၊ တပ်ဆင်ခြင်းနှင့် ခန့်အပ်ခြင်းတို့သည် အလုံးစုံပေးပို့ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်၏ အရေးကြီးသောအစိတ်အပိုင်းများဖြစ်သည်။ စက်ပစ္စည်းများကို ဖောက်သည်၏ အသုံးချမှုနှင့် လည်ပတ်မှုလိုအပ်ချက်များနှင့် ကိုက်ညီသော ၎င်း၏ဖွဲ့စည်းပုံဖွဲ့စည်းပုံသည် ၎င်း၏ ရည်ရွယ်ထားသော အလုပ်ပတ်ဝန်းကျင်တွင် လည်ပတ်နေစေရမည်။

ရှေ့ပြေးပုံစံ တရားဝင်အတည်ပြုခြင်း၊ အစုလိုက်အပြုံလိုက် ထုတ်လုပ်မှု၊ ပေးပို့ခြင်းနှင့် ဆိုက်ရောက်စစ်ဆေးခြင်း အဆင့်များကို ပြီးမြောက်စေခြင်းဖြင့် ပရောဂျက်အား ကနဦးနည်းပညာဆိုင်ရာ လိုအပ်ချက်မှ လက်တွေ့စမ်းသပ်မှုဖြေရှင်းချက်သို့ ယူဆောင်လာခဲ့ပါသည်။

5. ဤပရောဂျက်သည် အဘယ်အရာကို သက်သေပြသနည်း။

ဤပရောဂျက်သည် စိတ်ကြိုက် semiconductor အပူချိန်စမ်းသပ်ကိရိယာများအတွက် လက်တွေ့ကျသော ထည့်သွင်းစဉ်းစားမှုများကို မီးမောင်းထိုးပြထားသည်။

  • အပလီကေးရှင်းအလိုက် ဒီဇိုင်း- စက်ကိရိယာအား ဝယ်ယူသူ၏နမူနာပုံစံဖွဲ့စည်းပုံ၊ အပူချိန်အကွာအဝေး၊ ပါဝါလည်ပတ်မှုနှင့် အပူပိုင်းဝန်တို့ပတ်လည်တွင် စက်ပစ္စည်းများကို တီထွင်ခဲ့သည်။

  • Dual-zone ဖွဲ့စည်းမှု- လိုအပ်သော စမ်းသပ်မှု အစီအစဉ်နှင့် ကိုက်ညီစေရန် စက်ပစ္စည်းတည်ဆောက်ပုံတွင် စမ်းသပ်ဇုန်နှစ်ခုကို ထည့်သွင်းထားသည်။

  • Loaded temperature control- ဒီဇိုင်းလိုအပ်ချက်များသည် အမည်ခံအပူချိန်အကွာအဝေးသာမက ပါဝါစမ်းသပ်မှုအခြေအနေများအောက်တွင် အပူချိန်တူညီမှုကို ကိုင်တွယ်ဖြေရှင်းပေးပါသည်။

  • ရှေ့ပြေး ပုံစံ-အခြေခံတရားဝင်မှု- 18 ယူနစ်ထုတ်လုပ်မှုအသုတ်မစမီ နမူနာပုံစံကို ဝယ်ယူသူစမ်းသပ်မှု ပြုလုပ်ခဲ့သည်။

  • ပရောဂျက်ကို အပြီးသတ် အကောင်အထည်ဖော်ခြင်း- အဆိုပါလုပ်ငန်းသည် ဗီယက်နမ်တွင် ထုတ်လုပ်မှုနှင့် ဆိုက်ရောက်စစ်ဆေးခြင်းအထိ တိုးချဲ့လုပ်ဆောင်ခဲ့သည်။

ဆီမီးကွန်ဒတ်တာထုတ်လုပ်သူများနှင့် နည်းပညာကုမ္ပဏီများအတွက်၊ ထပ်ခါတလဲလဲထုတ်လုပ်ခြင်း သို့မဟုတ် ယုံကြည်စိတ်ချရမှုစမ်းသပ်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်များအတွက် ရည်ရွယ်သည့် အထူးပြုပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်ကိရိယာများအတွက် ပေးသွင်းသူတစ်ဦးကို ရွေးချယ်ရာတွင် ဤအချက်များသည် အရေးကြီးပါသည်။

အမေးများသောမေးခွန်းများ

ပါဝါမမ်မိုရီချစ်ပ်များအတွက် ဆီမီးကွန်ဒတ်တာ အပူချိန်စမ်းသပ်ကိရိယာကို စိတ်ကြိုက်ပြင်ဆင်နိုင်ပါသလား။

ဟုတ်ကဲ့။ စိတ်ကြိုက်ကိရိယာများကို ထုတ်ကုန်အတိုင်းအတာ၊ လည်ပတ်မှုအပူဝန်၊ အပူချိန်အကွာအဝေး၊ နမူနာစွမ်းရည်နှင့် လိုအပ်သော အပူချိန်တူညီမှုတို့တဝိုက်တွင် စိတ်ကြိုက်ကိရိယာများကို တီထွင်နိုင်သည်။ စွမ်းအင်သုံးစမ်းသပ်ခြင်းလုပ်ငန်းလည်ပတ်နေစဉ်နမူနာများမှထုတ်ပေးသောအပူကိုအထူးအာရုံစိုက်ရန်လိုအပ်သည်။

အစုလိုက်အပြုံလိုက် မထုတ်လုပ်မီ ရှေ့ပြေးပုံစံ မှန်ကန်မှုကို အဘယ်ကြောင့် အသုံးပြုသနည်း။

ရှေ့ပြေးပုံစံမှန်ကန်ကြောင်း အတည်ပြုခြင်းသည် သုံးစွဲသူအား ထုတ်လုပ်မှုပမာဏ အပြည့်မထုတ်လုပ်မီ ရည်ရွယ်ထားသည့် လျှောက်လွှာအခြေအနေများအောက်တွင် အဆိုပြုထားသော ဖွဲ့စည်းမှုပုံစံကို အကဲဖြတ်ရန် ခွင့်ပြုသည်။ ၎င်းသည် ထုတ်လုပ်မှုကို ချဲ့ထွင်ခြင်းမပြုမီ သဘောတူညီထားသည့် နည်းပညာဆိုင်ရာ လိုအပ်ချက်များနှင့် ကိုက်ညီသော ဒီဇိုင်းကို အတည်ပြုရန် အခွင့်အရေးတစ်ခု ပေးပါသည်။

Dual-zone အပူချိန်စမ်းသပ်ကိရိယာများတွင် အဓိကစိန်ခေါ်မှုများကား အဘယ်နည်း။

အဓိကထည့်သွင်းစဉ်းစားရမည့်အချက်များမှာ အပူစီမံခန့်ခွဲမှု၊ လေစီးဆင်းမှုဖြန့်ဝေမှု၊ နမူနာအနေအထား၊ အပူချိန်တူညီမှုနှင့် စမ်းသပ်ဇုန်နှစ်ခုကြား အပြန်အလှန်အကျိုးသက်ရောက်မှုများ ပါဝင်သည်။ တိကျသောဒီဇိုင်းသည် စက်ကိရိယာဖွဲ့စည်းပုံနှင့် ဖောက်သည်၏စမ်းသပ်မှုလိုအပ်ချက်များအပေါ် မူတည်သည်။

စိတ်ကြိုက်စမ်းသပ်ကိရိယာများအတွက် DANBLE သည် ဆိုက်တွင် ကော်မရှင်ပေးချေမှုကို ဆောင်ရွက်ပေးပါသလား။

ပရောဂျက်ပေးပို့ခြင်းတွင် သဘောတူညီထားသော ပရောဂျက်နယ်ပယ်နှင့် တပ်ဆင်မှုလိုအပ်ချက်များနှင့်အညီ ဆိုက်ရောက်စစ်ဆေးခြင်းတွင် ပါဝင်နိုင်သည်။ ဤတစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းပရောဂျက်တွင် ယူနစ် ၁၈ လုံးအား ဗီယက်နမ်နိုင်ငံသို့ ပို့ဆောင်ခဲ့ပြီး ဆိုက်ရောက်စစ်ဆေးခြင်း ပြီးစီးခဲ့သည်။

နိဂုံး

ရှေ့ပြေးပုံစံ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုနှင့် ဖောက်သည်အတည်ပြုခြင်းမှသည် အမြောက်အမြားထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် ဆိုက်ရောက်စစ်ဆေးခြင်းအထိ၊ ဤတစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းပရောဂျက်သည် စိတ်ကြိုက်အပူချိန်စမ်းသပ်ခြင်းဖြေရှင်းချက်၏ အပြီးသတ်အကောင်အထည်ဖော်မှုတွင် ပါဝင်ခဲ့သည်။

နောက်ဆုံးအသုတ်တွင် ယူနစ် 18 ခုပါဝင်ပြီး တစ်ခုစီတွင် semiconductor memory chip applications များအတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည့် စမ်းသပ်ဇုန်နှစ်ခုပါရှိသည်။ စက်ပစ္စည်းအား -40°C နှင့် +100°C အကြား လည်ပတ်ရန်အတွက် သတ်မှတ်ထားသော အလွှာ 60-နမူနာ ထိန်သိမ်း၊ ပါဝါစမ်းသပ်မှု၊ တင်ဆောင်ထားသော အပူချိန်တူညီမှု လိုအပ်ချက် ≤± 2.5°C နှင့် စမ်းသပ်နေစဉ်အတွင်း ငွေ့ရည်ဖွဲ့ရေမရှိပေ။

တိကျသောနမူနာအစီအစဥ်များ နှင့် အပူပေးလိုအပ်ချက်များတောင်းဆိုသည့်အပလီကေးရှင်းများအတွက်၊ ရှေ့ပြေးပုံစံအခြေခံတည်ဆောက်မှုလုပ်ငန်းစဉ်သည် စက်ကိရိယာဒီဇိုင်း၊ ဖောက်သည်အတည်ပြုချက်နှင့် အသုတ်ထုတ်လုပ်မှုတို့ကို ချိတ်ဆက်ပေးသည်။

DANBLE သည် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းနှင့် အီလက်ထရွန်းနစ်အပလီကေးရှင်းများအတွက် စိတ်ကြိုက်ပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်ကိရိယာများကို တီထွင်ဖန်တီးထားပြီး ပရောဂျက်ဖြေရှင်းချက်များအား သီးခြားစမ်းသပ်မှုလိုအပ်ချက်များနှင့် အံဝင်ခွင်ကျဖြစ်စေသည်။

One-Stop Environmental Testing Solutions ပေးသွင်းသူ

ကြှနျုပျတို့ကိုဆကျသှယျရနျ

  DANBO INSTRUMENT (KUNSHAN) CO.,LTD.
  Tel: +86-400-900-6797-2
  အီးမေးလ်- sales01@danbleclimate.com
  လိပ်စာ- အခန်း ၂၇၊ အမှတ် ၃၆၇ Youbi Rd၊ Kunshan၊ Jiangsu၊ China
မူပိုင်ခွင့် © 2025 Danble Instrument (Kunshan) Co., Ltd. All Rights Reserved. | ဆိုက်မြေပုံ | ကိုယ်ရေးအချက်အလက်မူဝါဒ