Dezvoltarea echipamentelor de testare a temperaturii pentru cipurile de memorie semiconductoare implică mai mult decât atingerea unui interval de temperatură specificat. Încărcarea probelor de înaltă densitate, funcționarea electrică continuă, generarea de căldură internă și consistența temperaturii, toate trebuie luate în considerare în proiectarea echipamentului.
DANBLE a lucrat cu o companie de tehnologie de semiconductori pentru a dezvolta o soluție personalizată de testare a temperaturii pentru testarea cipurilor de memorie alimentată. Echipamentul dispune de două zone de testare independente , cu un interval de temperatură de la -40°C la +100°C și o cerință de uniformitate a temperaturii încărcate de ≤± 2,5°C. Prevenirea condensului a fost o altă cerință esențială.
Proiectul a urmat un proces de dezvoltare a prototipului. DANBLE a furnizat un prototip inițial pentru evaluarea clienților, a continuat cu producția în masă a 18 unități după ce prototipul a trecut de testarea clientului și a finalizat livrarea și punerea în funcțiune la fața locului în Vietnam.
Acest proiect demonstrează procesul complet de dezvoltare a echipamentelor personalizate de testare a semiconductoarelor, de la validarea inițială a designului până la producția în loturi și implementarea la fața locului.
Clientul a cerut echipamente specializate de testare a mediului pentru cipurile de memorie care funcționează în condiții de temperatură controlată. Deoarece produsele rămân pornite în timpul testării, echipamentul trebuia să găzduiască atât mediul termic specificat, cât și căldura generată de probe.
Spațiul interior compact și aranjamentul cu mai multe straturi au adăugat cerințe suplimentare pentru distribuția temperaturii și gestionarea fluxului de aer.
Principalele specificații ale proiectului au fost:
Parametru |
Caietul de sarcini |
|---|---|
Aplicație |
Testarea chipului de memorie semiconductor |
Cantitatea echipamentului |
18 unitati |
Testarea configurației zonei |
Două zone de testare pe unitate |
Dimensiuni interioare (L × A × H) |
400 × 280 × 1.400 mm pe zonă |
Interval de temperatură |
-40°C până la +100°C |
Exemplu de configurație pentru rack |
60 de straturi |
Capacitatea produsului |
60 de cipuri de memorie |
Încărcarea eșantionului |
30 kg |
Disiparea căldurii |
1,6 kW |
Stare de funcționare |
Testare la pornire |
Uniformitatea temperaturii încărcate |
≤± 2,5°C |
Cerința de condensare |
Fără apă de condens în timpul testării |
Destinația de livrare |
Vietnam |
Starea proiectului |
Prototip validat; 18 unități produse în serie, livrate și puse în funcțiune |
Echipamentul încorporează două zone de testare într-o structură compactă. Fiecare zonă are dimensiuni interne de 400 × 280 × 1.400 mm, permițând ca aspectul echipamentului să fie adaptat la aranjamentul specific al eșantionului și cerințele de testare ale clientului.
O configurație cu două zone necesită o analiză atentă a aspectului intern, a managementului termic și a distribuției fluxului de aer. Acești factori sunt deosebit de importanți atunci când se testează produse semiconductoare care generează căldură în timpul funcționării.
Designul echipamentului a fost dezvoltat în funcție de intervalul de temperatură cerut de client, capacitatea eșantionului și condițiile de testare încărcate.
În timpul testării semiconductoarelor alimentate, căldura generată de produse poate afecta distribuția temperaturii în spațiul de testare.
Cu un rack de mostre cu 60 de straturi și o sarcină specificată de disipare a căldurii de 1,6 kW, menținerea temperaturilor constante pe întregul aranjament de eșantion a fost un aspect cheie de inginerie.
Ținta a fost o uniformitate a temperaturii încărcate de nu mai mult de ± 2,5°C. Atingerea acestei cerințe implică coordonarea sistemului de control termic cu fluxul de aer intern și plasarea probei, mai degrabă decât evaluarea performanței temperaturii doar în condiții de gol.
De asemenea, clientul a cerut ca echipamentul să funcționeze fără a genera apă de condens în timpul testării.
Controlul umidității este o considerație importantă în aplicațiile semiconductoare, unde condensul în jurul produselor sau a conexiunilor electrice poate interfera cu condițiile de testare.
Relația dintre temperatură, umiditate ambientală, temperatura suprafeței și punctul de rouă trebuie, prin urmare, să fie luată în considerare în proiectarea echipamentului și procedura de testare. Cerința de condensare a făcut parte din specificațiile tehnice ale proiectului și din considerentele de acceptare.
O parte importantă a acestui proiect a fost procesul de dezvoltare în etape.
În loc să treacă direct la cantitatea totală de producție, DANBLE a furnizat mai întâi un prototip pentru evaluarea clienților. Acest lucru a permis clientului să evalueze echipamentul propus în raport cu cerințele aplicației sale înainte de a se angaja în lotul complet.
Proiectul a decurs prin trei etape principale:
Etapa 1 — Dezvoltarea prototipului
DANBLE a dezvoltat echipamentul personalizat în funcție de intervalul de temperatură necesar, structura cu două zone, configurația rack-ului de mostre, condițiile de testare alimentată, ținta de uniformitate a temperaturii și cerințele de prevenire a condensului.
Etapa 2 — Testarea și validarea clienților
Prototipul a fost furnizat clientului pentru testare. După validarea cu succes a clienților, proiectul a trecut la etapa de producție în masă.
Acest pas a stabilit o bază pentru a continua cu configurația convenită a echipamentului înainte de a fabrica întreaga cantitate.
Etapa 3 — Producția în masă a 18 unități
După ce prototipul a trecut de testarea clientului, DANBLE a continuat cu producția în masă a tuturor celor 18 unități. Echipamentul finalizat a fost livrat în Vietnam, unde a fost finalizată și punerea în funcțiune la fața locului.
Această abordare a prototipului a oferit o modalitate practică de validare a soluției propuse înainte de a extinde producția pentru o aplicație specializată de semiconductor.
Proiectul nu s-a încheiat cu fabricarea echipamentelor. După validarea cu succes a prototipului și producția de lot, toate cele 18 unități au fost livrate în Vietnam și punerea în funcțiune la fața locului a fost finalizată.
Pentru echipamentele personalizate de testare a semiconductorilor, instalarea și punerea în funcțiune sunt părți importante ale procesului general de livrare. Echipamentul trebuie să fie pus în funcțiune în mediul de lucru prevăzut, cu configurația aliniată cu aplicația și cerințele de operare ale clientului.
Finalizarea etapelor de validare a prototipului, producție în masă, livrare și punere în funcțiune la fața locului a adus proiectul de la o cerință tehnică inițială la o soluție de testare implementată.
Acest proiect evidențiază câteva considerații practice pentru echipamentele personalizate de testare a temperaturii semiconductoarelor.
Design specific aplicației: echipamentul a fost dezvoltat în funcție de configurația eșantionului clientului, intervalul de temperatură, funcționarea alimentată și sarcina termică.
Configurație cu două zone: Două zone de testare au fost încorporate în structura echipamentului pentru a se potrivi cu aranjamentul de testare necesar.
Controlul temperaturii încărcate: cerințele de proiectare au vizat uniformitatea temperaturii în condiții de testare alimentată, nu doar intervalul de temperatură nominală.
Validare bazată pe prototip: Testarea prototipului de către clienți a avut loc înainte ca lotul de producție de 18 unități să continue.
Implementarea completă a proiectului: Lucrările s-au extins dincolo de producție până la livrare și punerea în funcțiune la fața locului în Vietnam.
Pentru producătorii de semiconductori și companiile de tehnologie, acești factori sunt importanți atunci când se selectează un furnizor pentru echipamente specializate de testare a mediului destinate proceselor de producție repetabilă sau de testare a fiabilității.
Da. Echipamentele personalizate pot fi dezvoltate în funcție de dimensiunile produsului, încărcarea termică de funcționare, intervalul de temperatură, capacitatea probei și uniformitatea necesară a temperaturii. Testarea motorizată necesită o atenție deosebită la căldura generată de probe în timpul funcționării.
Validarea prototipului permite clientului să evalueze configurația propusă în condițiile de aplicare prevăzute înainte ca întreaga cantitate de producție să fie fabricată. Oferă o oportunitate de a confirma proiectarea față de cerințele tehnice convenite înainte de a extinde producția.
Considerațiile cheie includ managementul termic, distribuția fluxului de aer, poziționarea probei, uniformitatea temperaturii și interacțiunea dintre cele două zone de testare. Designul specific depinde de configurația echipamentului și de cerințele de testare ale clientului.
Livrarea proiectului poate include punerea în funcțiune la fața locului în conformitate cu domeniul de aplicare convenit al proiectului și cerințele de instalare. În acest proiect de semiconductori, toate cele 18 unități au fost livrate în Vietnam și punerea în funcțiune la fața locului a fost finalizată.
De la dezvoltarea prototipului și validarea clienților până la producția de masă și punerea în funcțiune la fața locului, acest proiect de semiconductor a implicat implementarea completă a unei soluții personalizate de testare a temperaturii.
Lotul final a cuprins 18 unități, fiecare având două zone de testare concepute pentru aplicații cu cipuri de memorie semiconductoare. Echipamentul a fost specificat pentru funcționare între -40°C și +100°C, cu un rack de mostre cu 60 de straturi, testare electrică, o cerință de uniformitate a temperaturii încărcate de ≤± 2,5 °C și apă fără condens în timpul testării.
Pentru aplicațiile cu aranjamente specifice de mostre și cerințe termice exigente, un proces de dezvoltare bazat pe prototip ajută la conectarea proiectării echipamentelor, validarea clienților și producția în loturi.
DANBLE dezvoltă echipamente personalizate de testare a mediului pentru aplicații semiconductoare și electronice, cu soluții de proiect adaptate cerințelor specifice de testare.