Развој опреме за тестирање температуре за полупроводничке меморијске чипове укључује више од постизања одређеног температурног опсега. Пуњење узорка високе густине, континуирани електрични рад, унутрашња производња топлоте и конзистентност температуре, све то треба да се узме у обзир у дизајну опреме.
ДАНБЛЕ је радио са компанијом која се бави технологијом полупроводника на развоју прилагођеног решења за тестирање температуре за тестирање меморијских чипова са напајањем. Опрема има две независне испитне зоне , са температурним опсегом од -40°Ц до +100°Ц и захтевом за уједначеност температуре оптерећења од ≤± 2,5°Ц. Спречавање кондензације је био још један суштински захтев.
Пројекат је пратио процес развоја прототипа. ДАНБЛЕ је обезбедио почетни прототип за процену купаца, наставио са масовном производњом од 18 јединица након што је прототип прошао тестирање купца, и завршио испоруку и пуштање у рад на лицу места у Вијетнаму.
Овај пројекат демонстрира комплетан процес прилагођеног развоја опреме за испитивање полупроводника, од иницијалне валидације дизајна до серијске производње и имплементације на лицу места.
Купац је захтевао специјализовану опрему за испитивање животне средине за меморијске чипове који раде под контролисаним температурним условима. Пошто производи остају укључени током тестирања, опрема је потребна да се прилагоди и наведеном термичком окружењу и топлоти коју генеришу узорци.
Компактан унутрашњи простор и вишеслојни распоред узорака додали су додатне захтеве за расподелу температуре и управљање протоком ваздуха.
Главне спецификације пројекта су биле:
Параметар |
Спецификација |
|---|---|
Апликација |
Тестирање полупроводничких меморијских чипова |
Количина опреме |
18 јединица |
Конфигурација зоне тестирања |
Две испитне зоне по јединици |
Унутрашње димензије (Ш × Д × В) |
400 × 280 × 1.400 мм по зони |
Температурни опсег |
-40°Ц до +100°Ц |
Пример конфигурације сталка |
60 слојева |
Капацитет производа |
60 меморијских чипова |
Оптерећење узорка |
30 кг |
Расипање топлоте |
1,6 кВ |
Радни услови |
Тестирање по укључењу |
Уједначеност температуре оптерећења |
≤± 2,5°Ц |
Захтев за кондензацијом |
Нема кондензације воде током тестирања |
Одредиште испоруке |
Вијетнам |
Статус пројекта |
Прототип валидиран; Масовно произведено, испоручено и пуштено у рад 18 јединица |
Опрема укључује две испитне зоне унутар компактне структуре. Свака зона има унутрашње димензије од 400 × 280 × 1.400 мм, што омогућава да се распоред опреме прилагоди специфичном распореду узорака и захтевима за тестирање купца.
Двозонска конфигурација захтева пажљиво разматрање унутрашњег распореда, управљања топлотом и дистрибуције протока ваздуха. Ови фактори су посебно важни када се тестирају полупроводнички производи који генеришу топлоту током рада.
Дизајн опреме је развијен на основу захтеваног температурног опсега купца, капацитета узорка и услова тестирања под оптерећењем.
Током тестирања полупроводника са напајањем, топлота коју производи производи може утицати на дистрибуцију температуре у простору за тестирање.
Са сталком за узорке од 60 слојева и специфицираним оптерећењем дисипације топлоте од 1,6 кВ, одржавање конзистентне температуре у распореду узорака је било кључно инжењерско разматрање.
Циљ је био уједначеност температуре оптерећења не више од ± 2,5°Ц. Постизање овог захтева подразумева координацију система термичке контроле са унутрашњим протоком ваздуха и постављањем узорка, уместо да процењује температурне перформансе само у празним условима.
Купац је такође захтевао да опрема ради без стварања кондензоване воде током тестирања.
Контрола влаге је важно разматрање у апликацијама полупроводника, где кондензација око производа или електричних прикључака може да омета услове тестирања.
Однос између температуре, влажности околине, површинске температуре и тачке росе се стога мора узети у обзир у дизајну опреме и поступку испитивања. Захтев за кондензацијом је био део техничких спецификација пројекта и разматрања прихватања.
Важан део овог пројекта био је фазни развојни процес.
Уместо да пређе директно на пуну количину производње, ДАНБЛЕ је прво испоручио прототип за процену купаца. Ово је омогућило купцу да процени предложену опрему у односу на њене захтеве примене пре него што се посвети комплетној серији.
Пројекат је прошао кроз три главне фазе:
Фаза 1 — Развој прототипа
ДАНБЛЕ је развио прилагођену опрему у складу са захтеваним температурним опсегом, структуром са две зоне, конфигурацијом сталка за узорке, условима тестирања са напајањем, циљаном уједначеношћу температуре и захтевима за спречавање кондензације.
Фаза 2 — Тестирање и валидација купаца
Прототип је дат купцу на тестирање. Након успешне валидације купаца, пројекат је прешао у фазу масовне производње.
Овај корак је успоставио основу за наставак договорене конфигурације опреме пре производње пуне количине.
Фаза 3 — Масовна производња од 18 јединица
Након што је прототип прошао тестирање купца, ДАНБЛЕ је наставио са масовном производњом свих 18 јединица. Завршена опрема је испоручена у Вијетнам, где је такође завршено пуштање у рад на лицу места.
Овај приступ први прототип је пружио практичан начин за валидацију предложеног решења пре повећања производње за специјализовану примену полупроводника.
Пројекат се није завршио производњом опреме. Након успешне валидације прототипа и серијске производње, свих 18 јединица је испоручено у Вијетнам, а пуштање у рад је завршено.
За прилагођену опрему за испитивање полупроводника, инсталација и пуштање у рад су важни делови целокупног процеса испоруке. Опрема мора бити пуштена у рад у предвиђеном радном окружењу, при чему је њена конфигурација усклађена са применом и радним захтевима корисника.
Завршетак фаза валидације прототипа, масовне производње, испоруке и пуштања у рад на лицу места довели су пројекат од почетних техничких захтева до имплементираног решења за тестирање.
Овај пројекат наглашава неколико практичних разматрања за прилагођену опрему за тестирање температуре полупроводника.
Дизајн специфичан за примену: Опрема је развијена на основу конфигурације узорка купца, опсега температуре, рада са напајањем и термичког оптерећења.
Двозонска конфигурација: Две зоне за тестирање су уграђене у структуру опреме како би одговарале потребном распореду тестирања.
Контрола температуре под оптерећењем: Захтеви за дизајн су се бавили уједначеношћу температуре у условима тестирања са напајањем, а не само распоном номиналне температуре.
Валидација заснована на прототипу: Купци су тестирали прототип пре него што је настављена серија од 18 јединица.
Комплетна имплементација пројекта: Рад се проширио од производње до испоруке и пуштања у рад на лицу места у Вијетнаму.
За произвођаче полупроводника и технолошке компаније, ови фактори су важни при избору добављача за специјализовану опрему за испитивање животне средине намењену за поновљиву производњу или процесе испитивања поузданости.
Да. Прилагођена опрема се може развити око димензија производа, радног топлотног оптерећења, температурног опсега, капацитета узорка и захтеване уједначености температуре. Електрично тестирање захтева посебну пажњу на топлоту коју генеришу узорци током рада.
Валидација прототипа омогућава купцу да процени предложену конфигурацију под предвиђеним условима примене пре него што се произведе пуна производна количина. Пружа могућност да се потврди дизајн у складу са договореним техничким захтевима пре повећања производње.
Кључна разматрања укључују управљање топлотом, дистрибуцију протока ваздуха, позиционирање узорка, уједначеност температуре и интеракцију између две зоне за тестирање. Специфичан дизајн зависи од конфигурације опреме и тестних захтева купца.
Испорука пројекта може укључивати пуштање у рад на лицу места према договореном обиму пројекта и захтевима за инсталацију. У овом полупроводничком пројекту, свих 18 јединица је испоручено у Вијетнам и завршено је пуштање у рад на лицу места.
Од развоја прототипа и валидације купаца до масовне производње и пуштања у рад на лицу места, овај пројекат полупроводника укључивао је комплетну имплементацију прилагођеног решења за тестирање температуре.
Коначна серија се састојала од 18 јединица, од којих свака има две зоне за тестирање дизајниране за апликације полупроводничких меморијских чипова. Опрема је одређена за рад између -40°Ц и +100°Ц, са сталком за узорке од 60 слојева, тестирањем са напајањем, захтевом за уједначеност температуре оптерећења од ≤± 2,5°Ц и без кондензације воде током тестирања.
За апликације са специфичним распоредом узорака и захтевним термичким захтевима, процес развоја заснован на прототипу помаже у повезивању дизајна опреме, валидације купаца и серијске производње.
ДАНБЛЕ развија прилагођену опрему за испитивање животне средине за полупроводничке и електронске апликације, са пројектним решењима прилагођеним специфичним захтевима тестирања.