Le développement d’équipements de test de température pour les puces mémoire à semi-conducteurs ne se limite pas à atteindre une plage de température spécifiée. Le chargement d’échantillons à haute densité, le fonctionnement électrique continu, la génération de chaleur interne et la cohérence de la température doivent tous être pris en compte dans la conception de l’équipement.
DANBLE a travaillé avec une entreprise de technologie de semi-conducteurs pour développer une solution de test de température personnalisée pour les tests de puces mémoire alimentées. L'équipement comporte deux zones de test indépendantes , avec une plage de température de -40°C à +100°C et une exigence d'uniformité de température en charge de ≤± 2,5°C. La prévention de la condensation était une autre exigence essentielle.
Le projet a suivi un processus de développement de prototype d'abord. DANBLE a fourni un premier prototype pour évaluation par le client, a procédé à la production en série de 18 unités après que le prototype ait réussi les tests du client, et a terminé la livraison et la mise en service sur site au Vietnam.
Ce projet démontre le processus complet de développement d'équipements de test de semi-conducteurs personnalisés, depuis la validation initiale de la conception jusqu'à la production par lots et la mise en œuvre sur site.
Le client avait besoin d'un équipement de test environnemental spécialisé pour les puces mémoire fonctionnant dans des conditions de température contrôlée. Étant donné que les produits restent sous tension pendant les tests, l'équipement devait s'adapter à la fois à l'environnement thermique spécifié et à la chaleur générée par les échantillons.
L'espace interne compact et la disposition des échantillons multicouches ont ajouté des exigences supplémentaires en matière de répartition de la température et de gestion du flux d'air.
Les principales spécifications du projet étaient les suivantes :
Paramètre |
Spécification |
|---|---|
Application |
Test des puces mémoire à semi-conducteurs |
Quantité d'équipement |
18 unités |
Configuration de la zone de test |
Deux zones de test par unité |
Dimensions internes (L × P × H) |
400 × 280 × 1 400 mm par zone |
Plage de température |
-40°C à +100°C |
Configuration du portoir d'échantillons |
60 couches |
Capacité du produit |
60 puces mémoire |
Charge d'échantillon |
30 kg |
Dissipation thermique |
1,6 kW |
État de fonctionnement |
Tests sous tension |
Uniformité de la température chargée |
≤± 2,5°C |
Exigence de condensation |
Pas d'eau de condensation pendant les tests |
Lieu de livraison |
Viêt Nam |
Statut du projet |
Prototype validé ; 18 unités produites en série, livrées et mises en service |
L'équipement intègre deux zones de test au sein d'une structure compacte. Chaque zone a des dimensions internes de 400 × 280 × 1 400 mm, ce qui permet d'adapter la disposition de l'équipement à la disposition spécifique des échantillons et aux exigences de test du client.
Une configuration à deux zones nécessite un examen attentif de l'aménagement interne, de la gestion thermique et de la répartition du flux d'air. Ces facteurs sont particulièrement importants lors des tests de produits semi-conducteurs qui génèrent de la chaleur pendant leur fonctionnement.
La conception de l'équipement a été développée en fonction de la plage de température, de la capacité d'échantillon et des conditions de test en charge requises par le client.
Lors des tests de semi-conducteurs alimentés, la chaleur générée par les produits peut affecter la répartition de la température dans l'espace de test.
Avec un portoir d'échantillons à 60 couches et une charge de dissipation thermique spécifiée de 1,6 kW, le maintien de températures constantes dans l'ensemble de la disposition des échantillons était une considération technique clé.
L’objectif était une uniformité de température sous charge ne dépassant pas ± 2,5°C. Pour répondre à cette exigence, il faut coordonner le système de contrôle thermique avec le flux d'air interne et le placement des échantillons, plutôt que d'évaluer les performances en température uniquement dans des conditions vides.
Le client exigeait également que l'équipement fonctionne sans générer d'eau de condensation pendant les tests.
Le contrôle de l'humidité est une considération importante dans les applications de semi-conducteurs, où la condensation autour des produits ou des connexions électriques peut interférer avec les conditions de test.
La relation entre la température, l'humidité ambiante, la température de surface et le point de rosée doit donc être prise en compte dans la conception de l'équipement et la procédure de test. L'exigence de condensation faisait partie des spécifications techniques et des considérations d'acceptation du projet.
Une partie importante de ce projet était le processus de développement par étapes.
Plutôt que de procéder directement à la production totale, DANBLE a d'abord fourni un prototype pour évaluation par le client. Cela a permis au client d'évaluer l'équipement proposé par rapport aux exigences de son application avant de s'engager sur le lot complet.
Le projet s'est déroulé en trois étapes principales :
Étape 1 — Développement du prototype
DANBLE a développé l'équipement personnalisé en fonction de la plage de température requise, de la structure à deux zones, de la configuration du rack d'échantillons, des conditions de test alimentées, de l'objectif d'uniformité de la température et des exigences de prévention de la condensation.
Étape 2 — Tests et validation client
Le prototype a été fourni au client pour test. Après validation client réussie, le projet est passé à l’étape de production en série.
Cette étape a établi une base pour procéder à la configuration convenue de l'équipement avant de fabriquer la quantité totale.
Étape 3 — Production de masse de 18 unités
Une fois le prototype passé avec succès les tests du client, DANBLE a procédé à la production en série des 18 unités. L'équipement terminé a été livré au Vietnam, où la mise en service sur site a également été achevée.
Cette approche axée sur le prototype a fourni un moyen pratique de valider la solution proposée avant d'augmenter la production pour une application spécialisée dans les semi-conducteurs.
Le projet ne s'est pas arrêté à la fabrication d'équipements. Après une validation réussie du prototype et une production par lots, les 18 unités ont été livrées au Vietnam et la mise en service sur site a été achevée.
Pour les équipements de test de semi-conducteurs personnalisés, l’installation et la mise en service sont des éléments importants du processus de livraison global. L'équipement doit être mis en service dans son environnement de travail prévu, avec sa configuration alignée sur l'application et les exigences de fonctionnement du client.
L'achèvement des étapes de validation du prototype, de production en série, de livraison et de mise en service sur site a fait passer le projet d'une exigence technique initiale à une solution de test mise en œuvre.
Ce projet met en évidence plusieurs considérations pratiques pour les équipements personnalisés de test de température des semi-conducteurs.
Conception spécifique à l'application : l'équipement a été développé en fonction de la configuration d'échantillon, de la plage de température, du fonctionnement motorisé et de la charge thermique du client.
Configuration à deux zones : deux zones de test ont été intégrées à la structure de l'équipement pour s'adapter à la disposition de test requise.
Contrôle de la température en charge : les exigences de conception concernaient l'uniformité de la température dans des conditions de test sous tension, et pas seulement la plage de température nominale.
Validation basée sur le prototype : les tests client du prototype ont eu lieu avant le début de la production du lot de 18 unités.
Mise en œuvre complète du projet : le travail s'est étendu au-delà de la fabrication jusqu'à la livraison et la mise en service sur site au Vietnam.
Pour les fabricants de semi-conducteurs et les entreprises technologiques, ces facteurs sont importants lors de la sélection d’un fournisseur d’équipements de tests environnementaux spécialisés destinés à des processus de production ou de tests de fiabilité reproductibles.
Oui. Des équipements personnalisés peuvent être développés en fonction des dimensions du produit, de la charge thermique de fonctionnement, de la plage de température, de la capacité d'échantillon et de l'uniformité de température requise. Les tests motorisés nécessitent une attention particulière à la chaleur générée par les échantillons pendant le fonctionnement.
La validation du prototype permet au client d'évaluer la configuration proposée dans les conditions d'application prévues avant que la quantité totale de production ne soit fabriquée. Cela offre l’opportunité de confirmer la conception par rapport aux exigences techniques convenues avant d’augmenter la production.
Les considérations clés incluent la gestion thermique, la distribution du flux d’air, le positionnement des échantillons, l’uniformité de la température et l’interaction entre les deux zones de test. La conception spécifique dépend de la configuration de l'équipement et des exigences de test du client.
La livraison du projet peut inclure une mise en service sur site selon la portée du projet convenue et les exigences d'installation. Dans le cadre de ce projet de semi-conducteurs, les 18 unités ont été livrées au Vietnam et la mise en service sur site a été achevée.
Du développement du prototype et de la validation client à la production en série et à la mise en service sur site, ce projet de semi-conducteurs impliquait la mise en œuvre complète d'une solution de test de température personnalisée.
Le lot final comprenait 18 unités, chacune comportant deux zones de test conçues pour les applications de puces mémoire à semi-conducteurs. L'équipement a été spécifié pour fonctionner entre -40 °C et +100 °C, avec un portoir d'échantillons à 60 couches, des tests motorisés, une exigence d'uniformité de température en charge de ≤ ± 2,5 °C et aucune eau de condensation pendant les tests.
Pour les applications avec des dispositions d'échantillons spécifiques et des exigences thermiques exigeantes, un processus de développement basé sur des prototypes permet de relier la conception de l'équipement, la validation par le client et la production par lots.
DANBLE développe des équipements de tests environnementaux personnalisés pour les applications semi-conductrices et électroniques, avec des solutions de projet adaptées aux exigences de tests spécifiques.