正確な HTOL およびサーマル サイクル チャンバーの検証により、半導体の信頼性を確保します。 JEDEC/MIL-STDに準拠し、故障を回避し、研究開発コストを削減します。
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コストのかかる現場での故障を防ぎ、信頼性の高い IC ストレス テストを保証するには、JEDEC 準拠の半導体環境テスト チャンバーを選択してください。
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半導体パッケージングの欠陥を回避します。熱衝撃対 ESS および JEDEC/MIL-STD 準拠基準を使用して環境試験チャンバーを選択します。
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